[发明专利]触摸按键的触摸检测方法、运行控制装置及存储介质

说明书

本发明公开了一种触摸按键的触摸检测方法、运行控制装置及存储介质，采用三个互质的采样频率对触摸按键的触摸数据进行采集，得到第一采样数据、第二采样数据和第三采样数据；从第一采样数据、第二采样数据和第三采样数据中选取出与触摸按键的触摸基准值最接近的一个，作为最接近采样数据；根据最接近采样数据和触摸基准值，计算出触摸按键的触摸有效值；当触摸有效值与触摸按键的预设触发阈值之和小于触摸基准值，触摸按键的有效触发次数加一；当有效触发次数大于预设触发次数，确定触摸按键被按下。能够提高对触摸按键的触摸检测的可靠性。

技术领域

本发明涉及按键控制技术领域，尤其涉及一种触摸按键的触摸检测方法、运行控制装置及存储介质。

背景技术

目前基于MCU实现触摸按键的功能，需要在MCU设计方面增加许多抗干扰及控制温飘等可靠性电路，这使得触摸MCU成本大幅增加，且不同厂家的触摸MCU设计侧重点不同，无法适配十分复杂的应用环境，导致触摸按键的触摸检测不够可靠，经常实现误触发或者不触发，可靠性不足。

发明内容

本发明的目的在于至少解决现有技术中存在的技术问题之一，提供一种触摸按键的触摸检测方法、运行控制装置及存储介质，能够提高对触摸按键的触摸检测的可靠性。

第一方面，本发明实施例提供一种触摸按键的触摸检测方法，包括：

采用三个互质的采样频率对触摸按键的触摸数据进行采集，得到第一采样数据、第二采样数据和第三采样数据；

从所述第一采样数据、所述第二采样数据和所述第三采样数据中选取出与所述触摸按键的触摸基准值最接近的一个，作为最接近采样数据；

根据所述最接近采样数据和所述触摸基准值，计算出所述触摸按键的触摸有效值；

当所述触摸有效值与所述触摸按键的预设触发阈值之和小于所述触摸基准值，所述触摸按键的有效触发次数加一；当所述触摸有效值与所述触摸按键的预设触发阈值之和大于或者等于所述触摸基准值，所述有效触发次数清零；所述有效触发次数的初始值为零；

当所述有效触发次数大于预设触发次数，确定所述触摸按键被按下。

根据本发明实施例提供的触摸按键的触摸检测方法，至少具有如下有益效果：通过采用三个互质的采样频率对触摸按键的触摸数据进行采集，即使其中一个采样频率收到干扰，其余两个采样频率由于互质，受到的干扰很少甚至不受干扰，可以使得采样的数据更为可靠；将三个采样数据中与触摸基准值的差值最小的作为最接近采样数据，并计算出触摸有效值，在将触摸有效值于触摸基准值进行比较，当触摸有效值与触摸按键的预设触发阈值之和小于触摸基准值，也即触摸有效值与触摸基准值之间的差值大于预设触发阈值，可以初步认定为该触摸按键被按下，触摸按键的有效触发次数加一；最后当有效触发次数大于预设触发次数，满足消抖条件，从而可以确定触摸按键被稳定按下；采用本发明实施例提供的触摸检测方法，能够提高对触摸按键的触摸检测的可靠性。

在上述的触摸按键的触摸检测方法中，所述触摸有效值采用以下方式计算得出：

当|D-B|2Y且D＞B，E＝D-(D-B)；

当|D-B|2Y且D＜B，E＝D+(D-B)；

当|D-B|≤2Y，E＝D；

其中，E为触摸有效值，D为最接近采样数据，B为触摸基准值，Y为预设触发阈值。

在上述的触摸按键的触摸检测方法中，所述方法还包括：

当触摸有效值与预设触发阈值之和小于触摸基准值的触摸按键的数量超过所有触摸按键的总数的一半，将所有触摸按键的触摸基准值清零；其中，最大响应按键数小于所有触摸按键的总数的一半，所述最大响应按键数为允许同时响应的触摸按键的数量。

在上述的触摸按键的触摸检测方法中，所述方法还包括：