[发明专利]钻孔孔壁三维光学成像系统及方法在审

专利信息
申请号: 202210530564.0 申请日: 2022-05-16
公开(公告)号: CN114893171A 公开(公告)日: 2022-08-12
发明(设计)人: 王益腾;陈双源;韩增强;汪进超;王超;魏幸雅;李姝慧 申请(专利权)人: 中国科学院武汉岩土力学研究所
主分类号: E21B47/002 分类号: E21B47/002
代理公司: 北京权智天下知识产权代理事务所(普通合伙) 11638 代理人: 袁满
地址: 430000 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 钻孔 三维 光学 成像 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种钻孔孔壁三维光学成像系统,其特征在于,

所述系统构造有升降装置、测量装置及上位机;

所述升降装置构造为调制所述测量装置的水平高度;

所述测量装置构造为获取钻孔孔壁在当前所述水平高度的孔壁投影图像;

所述上位机配置为拼接至少两个连续所述水平高度的所述孔壁投影图像为地质钻孔全部或部分的孔壁投影成像。

2.根据权利要求1所述的钻孔孔壁三维光学成像系统,其特征在于,

所述升降装置构造有拉线机构、传输电线及至少一滚轮;

所述传输电线的远端向下与所述测量装置连接,近端通过至少一所述滚轮转向后与所述上位机连接;

所述拉线机构调制所述传输电线远端的水平高度。

至少一所述滚轮配置有同步转动的转角编码器;

所述转角编码器获取所述滚轮的转动角度,并且发送所述转动角度的角度信号及方向信号到所述上位机;

所述上位机根据所述测量装置的初始高度、所述角度信号及所述方向信号实时的获取当前所述水平高度。

3.根据权利要求1所述的钻孔孔壁三维光学成像系统,其特征在于,

所述测量装置构造有壳体组件及部署在所述壳体组件的至少一光源及摄像设备;

所述升降装置构造为调制所述壳体组件在钻孔轴向的所述水平高度;

所述光源构造为至少照亮在当前所述水平高度的一深度范围内的所述钻孔孔壁;

所述摄像设备配置为在获取被照亮的所述钻孔孔壁的部分或全部的所述孔壁投影图像。

4.根据权利要求3所述的钻孔孔壁三维光学成像系统,其特征在于,

所述测量装置构造有部署在所述壳体组件的至少一反射体;

所述摄像设备通过至少一所述反射体获取所述孔壁投影图像。

5.根据权利要求4所述的钻孔孔壁三维光学成像系统,其特征在于,

所述反射体构造为锥面镜;

所述摄像设备的镜头与所述锥面镜保持轴线平行,并且至少的覆盖所述锥面镜部分;

所述摄像设备通过所述锥面镜获取所述孔壁投影图像。

6.根据权利要求5所述的钻孔孔壁三维光学成像系统,其特征在于,

所述锥面镜被覆盖的部分构造有上锥面镜及下锥面镜;

所述上锥面镜及所述下锥面镜的锥角不同;

所述摄像设备通过所述上锥面镜获取第一孔壁投影图像;

所述摄像设备通过所述下锥面镜获取第一孔壁投影图像;

所述上位机配置为分别的拼接至少两个连续所述水平高度的所述第一孔壁投影图像和/或所述第二孔壁投影图像为地质钻孔全部或部分的孔壁投影成像。

7.根据权利要求6所述的钻孔孔壁三维光学成像系统,其特征在于,

所述钻孔孔壁形成有重叠在所述第一孔壁投影图像及所述第二孔壁投影图像的重叠孔壁区域;

所述摄像设备通过所述上锥面镜和/或所述下锥面镜获取重叠孔壁区域的孔壁投影图像;

所述上位机配置为分别的拼接至少两个连续所述水平高度的所述重叠区域孔壁对应部分的所述孔壁投影图像为地质钻孔全部或部分的孔壁投影成像。

8.根据权利要求1所述的钻孔孔壁三维光学成像系统,其特征在于,

所述壳体组件构造有沿轴线依次连接的外壳底盖、玻璃筒下部连接件、透视玻璃筒、玻璃筒上部连接件及外壳后盖;

所述外壳后盖在所述玻璃筒上部连接件内连接有用于安装所述摄像设备及所述光源的内支架;

所述测量装置透过所述透视玻璃筒获取钻孔孔壁在当前所述水平高度的孔壁投影图像。

9.根据权利要求1所述的钻孔孔壁三维光学成像系统,其特征在于,

所述测量装置构造为获取钻孔孔壁在当前所述水平高度的预制深度范围内的孔壁投影图像;

所述上位机配置为拼接至少两个连续所述水平高度的所述孔壁投影图像为地质钻孔全部或部分的孔壁投影成像。

10.一种钻孔孔壁三维光学成像方法,所述方法应用有如权利要求1到9任意一项所述的钻孔孔壁三维光学成像系统,其特征在于,所述方法包括:

所述测量装置获取钻孔孔壁在当前所述水平高度的孔壁投影图像;

所述升降装置调制所述测量装置的水平高度;

所述上位机拼接至少两个连续所述水平高度的所述孔壁投影图像为地质钻孔全部或部分的孔壁投影成像。

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