[发明专利]样本分析仪

权利要求书

1.一种样本分析仪，其特征在于，所述样本分析仪包括样本反应容器、鞘液容器、流动室、光学测量组件和多个温控模块；

所述流动室分别与所述反应容器和所述鞘液容器连通；所述光学测量组件检测经过所述流动室的光线；所述多个温控模块分别与所述样本反应容器、所述鞘液容器以及所述光学测量组件对应设置，以控制所述样本反应容器的温度、所述鞘液容器的温度以及所述光学测量组件的温度；

所述光学测量组件包括激光器、散射光探测器和荧光探测器；所述多个温控模块包括流动室温控模块和光学测量组件温控模块，所述光学测量组件温控模块包括激光器温控模块、散射光探测器温控模块和荧光探测器温控模块；

所述流动室温控模块与所述流动室对应设置，用于控制所述流动室的温度；所述激光器温控模块对应于所述激光器设置，用于控制所述激光器的温度；所述散射光探测器温控模块对应于所述散射光探测器设置，用于控制所述散射光探测器的温度；所述荧光探测器温控模块对应于所述荧光探测器设置，用于控制所述荧光探测器的温度；

所述激光器温控模块、所述散射光探测器温控模块、所述荧光探测器温控模块和所述流动室温控模块集成为一公共温控装置，所述流动室、所述激光器、所述散射光探测器和所述荧光探测器分别对应装配于所述公共温控装置；

所述公共温控装置为单向控温装置；

所述公共温控装置包括：

蓄热片组件，所述流动室、所述激光器、所述散射光探测器和所述荧光探测器分别对应装配于所述蓄热片组件，所述蓄热片组件用于加热所述流动室、所述激光器、所述散射光探测器和所述荧光探测器；

蓄热测温件，装配于所述蓄热片组件，用于探测所述蓄热片组件的温度；

以及控制器，分别电性耦接所述蓄热片组件和所述蓄热测温件，用于控制所述蓄热片组件升温至目标温控范围；

所述蓄热片组件包括相背设置的第一侧面和第二侧面，第一侧面具有组件装配区和组件避开区，所述组件装配区邻接所述组件避开区，所述组件装配区用于装配所述激光器、所述流动室、所述散射光探测器和所述荧光探测器，所述组件避开区不装配所述光学测量组件；

其中，所述激光器、所述流动室、所述散射光探测器和所述荧光探测器设置于所述组件装配区，所述蓄热测温件设置于所述组件避开区。

2.根据权利要求1所述的样本分析仪，其特征在于，所述多个温控模块包括反应温控模块和鞘液温控模块，所述反应温控模块与所述样本反应容器对应设置，所述鞘液温控模块与所述鞘液容器对应设置，所述光学测量组件温控模块与所述光学测量组件对应设置。

3.根据权利要求2所述的样本分析仪，其特征在于，所述蓄热片组件包括：

加热片，所述第一侧面和所述第二侧面为所述加热片相背设置的两侧面；

其中，所述控制器电性耦接所述加热片。

4.根据权利要求2所述的样本分析仪，其特征在于，所述蓄热片组件包括：

加热片，所述控制器电性耦接所述加热片；

以及导热底板，所述导热底板叠合设置于所述加热片上，所述第一侧面为所述导热底板背离所述加热片的一侧面，所述第二侧面为所述加热片背离所述导热底板的一侧面。

5.根据权利要求2所述的样本分析仪，其特征在于，所述样本分析仪包括罩体，所述罩体罩设于所述蓄热片组件的第一侧面，以与所述蓄热片组件围合成保温腔，所述流动室、所述激光器、所述散射光探测器、所述荧光探测器、所述蓄热测温件位于所述保温腔内。

6.根据权利要求2所述的样本分析仪，其特征在于，样本分析仪包括：

激光器测温件，设置于所述激光器，与所述控制器电性耦接，用于监测所述激光器的温度；

流动室测温件，设置于所述流动室，与所述控制器电性耦接，用于监测所述流动室的温度；

散射光探测器测温件，设置于所述散射光探测器，与所述控制器电性耦接，用于监测所述散射光探测器的温度；

以及荧光探测器测温件，设置于所述荧光探测器，与所述控制器电性耦接，用于监测所述荧光探测器的温度。