[发明专利]一种基于正断层断面三维属性的相关褶皱处理方法及系统

说明书

本发明提供了一种基于正断层断面三维属性的相关褶皱处理方法及系统，从数字高程数据获取正断层信息，根据正断层信息通过计算正断层的层向信号得到正断层产状，根据正断层产状构建正断层处理模型，使用正断层处理模型以分析出正断层相关褶皱类型，实现了根据数字化的正断层断面的三位属性的数据自动快速地分析出褶皱类别的有益效果。

技术领域

本发明属于数据分析、大数据处理领域，具体涉及一种基于正断层断面三维属性的相关褶皱处理方法及系统。

背景技术

当前已有的正断层生长模式分为2种，其一是孤立断层模型，即位移和长度的同步增加的，另一种是等长断层模型，即快速建立长度和随后的位移累积的。孤立断层模型在构造地质学文献中占据主导地位多年，后来三维地震数据和物理模拟实验证实许多都应该是等长断层模型，但目前缺少有效区分2种断层生长模型的方法，生长地层分析是检验竞争性断层生长模型的现有方法，当前可区分2种断层生长模式的方法主要包括扩张指数分析（Expansion index analysis）、等时线分析（Isochrone analysis）、位移回剥（Displacement backstripping）以及转换带回剥（Relay-zone backstripping）等，但是上述方法需要大规模的实地的地质勘探以仔细测量断层数据，耗费大量的成本。断层相关褶皱按形成机制可分为断层转折褶皱、断层传播褶皱、断层滑脱褶皱。由此，与现有的处理方法不同，正断层断面三维属性的相关褶皱处理急需一种基于数字化的三维属性的数据进行正断层识别分类的方法，以节省成本。

发明内容

本发明的目的在于提出一种基于正断层断面三维属性的相关褶皱处理方法及系统，以解决现有技术中所存在的一个或多个技术问题，至少提供一种有益的选择或创造条件。

本发明提供了一种基于正断层断面三维属性的相关褶皱处理方法及系统，从数字高程数据获取正断层信息，根据正断层信息通过计算正断层的层向信号得到正断层产状，根据正断层产状构建正断层处理模型，使用正断层处理模型以分析出正断层相关褶皱类型。

为了实现上述目的，根据本发明的一方面，提供一种基于正断层断面三维属性的相关褶皱处理方法，所述方法包括以下步骤：

S100，获取待测区域的数字高程数据；

S200，从数字高程数据获取正断层信息；

S300，根据正断层信息，通过计算正断层的层向信号，得到正断层产状；

S400，根据正断层产状构建正断层处理模型；

S500，使用正断层处理模型以分析出正断层相关褶皱类型。

进一步地，在S100中，获取待测区域的数字高程数据的方法为：

在待测区域上，获取待测区域的数字高程数据，即获取数字地图中待测区域的数字高程模型作为数字高程数据。

进一步地，在S200中，从数字高程数据获取正断层信息的方法为：

数字高程数据上对应待测区域的一点的数据即为一个采样点，一个采样点由该个采样点的三维坐标、以及该个坐标点在数字高程模型上对应的海拔高度构成，具体为：记待检测区域上的采样点的数量为n，待检测区域上的采样点的序号为i，i∈[1,n]，记由待检测区域上所有的采样点组成的集合为Pset，待检测区域上序号为i的采样点记为Pi，采样点Pi中的三维坐标记为Li，Li以三维数组的形式储存，Li中X轴坐标记作Li(x)，Li中Y轴坐标记作Li(y)，Li中Z轴坐标记作Li(z)，Li=[Li(x),Li(y),Li(z)]，采样点Pi中的海拔高度记为Hi，即Pi=[Li,Hi]，将所述集合Pset作为正断层信息。

进一步地，在S300中，根据正断层信息，通过计算正断层的层向信号，得到正断层产状的方法具体为：