[发明专利]一种半导体测试用转向槽装置

说明书

本发明公开了一种半导体测试用转向槽装置，包括固定柱、转向槽、和定位装置，所述固定柱包括第一立柱和第二立柱，第一立柱通过转轴与第二立柱相连接，所述第二立柱的上端设置有定位装置，所述转向槽的下端设置有定位槽和定位轴，所述定位轴通过第一锁紧螺栓与第二立柱相配合，定位槽与定位装置相配合。该半导体测试用转向槽装置设置有固定柱和转向槽，当更换不同的产品的时候，只需要调整第二立柱的角度，使第二立柱上面的定位装置达到合适的位置，然后就可以把转向槽直接固定在第二立柱上即可，不再需要用软件不的进行调整，保证安装、调整方便，从而提升生产效率，满足生产要求。

技术领域

本发明属于半导体生产设备技术领域，具体为一种半导体测试用转向槽装置。

背景技术

半导体(semiconductor)，指常温下导电性能介于导体(conductor)与绝缘体(insulator)之间的材料。半导体在收音机、电视机以及测温上有着广泛的应用。如二极管就是采用半导体制作的器件。半导体是指一种导电性可受控制，范围可从绝缘体至导体之间的材料，半导体在生产过程中要进行测试，在测试过程中，产品旋转到测试及进编带所需要的方向，现有的转向槽为分离式，更换转向槽时位置无法固定很难调整，要经常调准角度之后在进行侧视，导致更换工时提高，从而导致效率异常。

发明内容

针对现有技术存在的上述问题，本发明所要解决的技术问题在于提供一种半导体测试用转向槽装置，以解决目前的现有的转向槽为分离式，更换转向槽时位置无法固定很难调整，要经常调准角度之后在进行侧视，导致更换工时提高，从而导致效率异常的问题。

为了解决上述技术问题，本发明采用的技术方案为：

一种半导体测试用转向槽装置，包括固定柱、转向槽、和定位装置，所述固定柱包括第一立柱和第二立柱，第一立柱通过转轴与第二立柱相连接，所述第二立柱的上端设置有定位装置，所述转向槽的下端设置有定位槽和定位轴，所述定位轴通过第一锁紧螺栓与第二立柱相配合，定位槽与定位装置相配合。

进一步的，所述第一立柱的上端设置有第一连接圈，第二立柱的下端设置有第二连接圈，且第一连接圈和第二连接圈的位置相对应，所述第一连接圈和第二连接圈上均匀设置有螺栓孔，第一连接圈和第二连接圈通过螺栓相配合。

进一步的，所述第二立柱的上端正中间设置有嵌槽，立柱的上端面设置有滑动槽，嵌槽与定位轴相配合，滑动槽与定位装置相配合。

进一步的，所述第二立柱的侧面分别设置有第一锁紧螺栓和第二锁紧螺栓，第一锁紧螺栓通过螺栓孔与定位轴相对应，第二锁紧螺栓通过螺栓孔与定位装置相对应。

进一步的，所述定位装置包括滑动块和定位块，所述滑动块的上端设置有定位块，且滑动块位于滑动槽内部，所述定位块的上部两侧设置有连接槽，且连接槽内部通过弹簧设置有配合块。

进一步的，所述定位槽的内部两侧均设置有配合槽，且配合槽与配合块相配合。

进一步的，所述配合块的切面为半圆，配合槽的切面为弧形。

进一步的，所述第二立柱的下端外表面设置有刻度。

有益效果：与现有技术相比，本申请具有以下优势：

1.该半导体测试用转向槽装置设置有固定柱和转向槽，当更换不同的产品的时候，只需要调整第二立柱的角度，使第二立柱上面的定位装置达到合适的位置，然后就可以把转向槽直接固定在第二立柱上即可，不再需要用软件不的进行调整，保证安装、调整方便，从而提升生产效率，满足生产要求。

2.该半导体测试用转向槽装置的定位装置可以调整位置，使用者可以根据不同的大小的转向槽来调整固定装置的位置，是固定装置能够更好配合不同的转向槽，大大提高了适用性。

附图说明

图1是半导体测试用转向槽装置面结构示意图；