[发明专利]应用于FPGA的失效定位方法

权利要求书

1.应用于FPGA的失效定位方法，其特征在于，包括以下步骤：

根据被测芯片的底层物理网表和原始代码，确定用于失效分析的代码块范围；

对所述代码块范围对应的底层电路进行二次布线操作，将所述底层电路的多个fabric电路的中间节点数据引出到芯片外；

根据所述中间节点数据分析所述底层物理网表，生成以代码块为单位的多套测试集，每套测试集包括多个测试pattern；

根据所述多个测试集对被测芯片进行实测，并收集失效信息；

根据所述失效信息，定位至芯片失效的物理位置。

2.根据权利要求1所述的应用于FPGA的失效定位方法，其特征在于，

根据测试pattern对应的失败信息定位至失效fabric电路，再根据所述失效fabric电路定位至对应的芯片失效的物理位置。

3.根据权利要求2所述的应用于FPGA的失效定位方法，其特征在于，对所述代码块范围对应的底层电路进行二次布线操作，包括以下步骤：

获取被测芯片的空闲的输出IO资源和空闲的fabric电路；

针对所述代码块范围中的第一代码块，逐个分析所述第一代码块在所述底层物理网表中所使用的资源，得到所述第一代码块的一个或多个资源输出口；

每次将一个所述第一代码块的资源输出口连接至所述空闲的fabric电路上，并通过所述空闲的fabric电路连接到所述空闲的输出io资源上。

4.根据权利要求3所述的应用于FPGA的失效定位方法，其特征在于，根据所述中间节点数据分析所述底层物理网表，生成以代码块为单位的多套测试集，具体为：

自动化程序根据所述中间节点数据分析所述底层物理网表，得到fabric电路的连接关系；

通过电路仿真得到每个fabric电路的期望输入值和期望输出值，并生成以代码块为单位的多套测试集。

5.根据权利要求4所述的应用于FPGA的失效定位方法，其特征在于，每套测试集包括1～999个测试pattern。

6.根据权利要求1至5任一项所述的应用于FPGA的失效定位方法，其特征在于，所述根据所述多个测试集对失效芯片进行实测的过程为自动化测试过程。