[发明专利]一种TOPCon电池及其制备方法有效
申请号: | 202210489736.4 | 申请日: | 2022-05-07 |
公开(公告)号: | CN114597267B | 公开(公告)日: | 2022-08-26 |
发明(设计)人: | 李红博;何胜;余浩;单伟;徐伟智 | 申请(专利权)人: | 正泰新能科技有限公司 |
主分类号: | H01L31/0216 | 分类号: | H01L31/0216;H01L31/068;H01L31/18 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 杨威 |
地址: | 314400 浙江*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 topcon 电池 及其 制备 方法 | ||
1.一种TOPCon电池,包括:
Si基体;
复合在所述Si基体上的隧穿氧化层;
复合在所述隧穿氧化层上的第一晶硅层;所述第一晶硅层的厚度为10nm~25nm;
复合在所述第一晶硅层上的磷扩散阻挡层;所述磷扩散阻挡层为SiO2层,厚度为2nm ~5nm;
复合在所述磷扩散阻挡层上的第二晶硅层;所述第二晶硅层为磷掺杂多晶硅层,厚度为80nm~100nm;
复合在所述第二晶硅层上的H阻挡层;所述H阻挡层为SiO2层,厚度为2nm~5nm;
复合在所述H阻挡层上的氮硅层;所述氮硅层为SiNx-SiONx叠层,氮硅层的厚度为60nm~90nm;
所述TOPCon电池的制备方法包括以下步骤:
将N型单晶硅片依次进行制绒、硼扩散、去背面绕镀和背面抛光后,依次生长隧穿氧化层、第一晶硅层、磷扩散阻挡层、第二晶硅层、H阻挡层和氮硅层,得到TOPCon电池;所述磷扩散阻挡层采用氧化剂在第一晶硅层上生长,形成的SiO2阻挡层;
所述H阻挡层的生长过程具体为:
先采用原位掺杂的方式在磷扩散阻挡层上沉积磷掺杂多晶硅层,得到第二晶硅层;再采用氧化剂在第二晶硅层上生长SiO2层后高温退火,得到H阻挡层;
或,
先在磷扩散阻挡层上沉积本征多晶硅层,再经高温磷扩散和高温通氧退火,得到第二晶硅层;最后采用氧化剂在第二晶硅层上生长SiO2层,得到H阻挡层。
2.根据权利要求1所述的TOPCon电池,其特征在于,所述隧穿氧化层的厚度为1nm~2nm。
3.根据权利要求1所述的TOPCon电池,其特征在于,所述氧化剂选自O2、N2O、H2O和O3中的一种或多种。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的