[发明专利]一种TOPCon电池及其制备方法有效

专利信息
申请号: 202210489736.4 申请日: 2022-05-07
公开(公告)号: CN114597267B 公开(公告)日: 2022-08-26
发明(设计)人: 李红博;何胜;余浩;单伟;徐伟智 申请(专利权)人: 正泰新能科技有限公司
主分类号: H01L31/0216 分类号: H01L31/0216;H01L31/068;H01L31/18
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 杨威
地址: 314400 浙江*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 topcon 电池 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种TOPCon电池,包括:

Si基体;

复合在所述Si基体上的隧穿氧化层;

复合在所述隧穿氧化层上的第一晶硅层;所述第一晶硅层的厚度为10nm~25nm;

复合在所述第一晶硅层上的磷扩散阻挡层;所述磷扩散阻挡层为SiO2层,厚度为2nm ~5nm;

复合在所述磷扩散阻挡层上的第二晶硅层;所述第二晶硅层为磷掺杂多晶硅层,厚度为80nm~100nm;

复合在所述第二晶硅层上的H阻挡层;所述H阻挡层为SiO2层,厚度为2nm~5nm;

复合在所述H阻挡层上的氮硅层;所述氮硅层为SiNx-SiONx叠层,氮硅层的厚度为60nm~90nm;

所述TOPCon电池的制备方法包括以下步骤:

将N型单晶硅片依次进行制绒、硼扩散、去背面绕镀和背面抛光后,依次生长隧穿氧化层、第一晶硅层、磷扩散阻挡层、第二晶硅层、H阻挡层和氮硅层,得到TOPCon电池;所述磷扩散阻挡层采用氧化剂在第一晶硅层上生长,形成的SiO2阻挡层;

所述H阻挡层的生长过程具体为:

先采用原位掺杂的方式在磷扩散阻挡层上沉积磷掺杂多晶硅层,得到第二晶硅层;再采用氧化剂在第二晶硅层上生长SiO2层后高温退火,得到H阻挡层;

或,

先在磷扩散阻挡层上沉积本征多晶硅层,再经高温磷扩散和高温通氧退火,得到第二晶硅层;最后采用氧化剂在第二晶硅层上生长SiO2层,得到H阻挡层。

2.根据权利要求1所述的TOPCon电池,其特征在于,所述隧穿氧化层的厚度为1nm~2nm。

3.根据权利要求1所述的TOPCon电池,其特征在于,所述氧化剂选自O2、N2O、H2O和O3中的一种或多种。

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