[发明专利]固态硬盘SMART数据写入量统计的测试验证方法和装置

说明书

本申请涉及一种固态硬盘SMART数据写入量统计的测试验证方法、装置、计算机设备和存储介质，其中该方法包括：开机上电读取固态硬盘中的SMARTlog信息，记录SMART log信息中当前主机写入量以及当前主机写命令数；发送一定数量的写命令写入LBA0中；记录SMART log信息中最新的数据写入量以及SMART log信息中最新的主机写命令数；计算SMART log信息中最新的数据写入量与上次记录的写入量的差值，并判断SMART log字节对应位置的数值增量是否匹配；计算所述SMART log信息中最新的主机写命令数与上次记录的写命令数的差值，并判断SMART log字节对应位置的数值增量是否匹配。本发明实现了高效地验证固态硬盘SMART数据写入量。

技术领域

本发明涉及固态硬盘技术领域，特别是涉及一种固态硬盘SMART数据写入量统计的测试验证方法、装置、计算机设备和存储介质。

背景技术

SMART(Self-Monitoring Analysis and Reporting Technology，自我监测、分析及报告技术，以下简称SMART)其记录的固态硬盘健康信息在系统电源上下电后保留且可跨越固态硬盘的整个使用寿命周期；在固态硬盘使用及寿命或故障分析的过程中，SMART健康信息将提供非常有用的数字。如关键性报警(SMART Log字节位置00处)将提示是否有温度过高超出阀值或可用的备份空间低于阀值的异常事件发生；再如SMART log中记录的固态硬盘当前工作温度及剩余寿命百分比等。显然SMART log中的信息是非常重要的，其可靠度直接影响产品的质量和客户体验，因此有必要对其中的信息加以测试验证。

目前，现有技术中测试验证主要是查看SMART log中固态硬盘的工作温度是否在持续的读写环境中会超温、可用剩余空间在长时间使用后是否合理的减少、上下电次数是否随着系统上下电次数相应增加、异常关机的次数是否随着AC电源的异常移除而相应增加。但是SMART log中主机对硬盘的数据写入量及写命令次数没有测试被验证。当SMARTlog中记录的主机写入量不符合预期远小于主机实际写入量时将有损固态硬盘供应商的利益，而当SMART log中记录的主机写入量远大于主机实际写入量时将有损客户的利益，因此固态硬盘在出厂时必须测试验证SMART log中主机对固态硬盘的数据写入量。

发明内容

基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够快速高效的实现对固态硬盘中的SMART数据写入量统计进行测试验证方法、装置、计算机设备和存储介质。

一种固态硬盘SMART数据写入量统计的测试验证方法，所述方法包括：

开机上电读取固态硬盘中的SMART log信息，记录所述SMART log信息中当前主机写入量以及当前主机写命令数；

发送一定数量的写命令写入LBA0中；记录所述SMART log信息中最新的数据写入量以及所述SMART log信息中最新的主机写命令数；计算所述SMART log信息中最新的数据写入量与上次记录的写入量的差值，并判断SMART log字节对应位置的数值增量是否匹配；计算所述SMART log信息中最新的主机写命令数与上次记录的写命令数的差值，并判断SMART log字节对应位置的数值增量是否匹配；

发送一定数量的写命令并分别写入LBA0和LBA1中，重复执行上述记录、计算以及判断的步骤；

发送一定数量的写命令并分别写入LBA0、LBA1、LBA2和LBA3中，重复执行上述记录、计算以及判断的步骤。

在其中一个实施例中，所述发送一定数量的写命令写入LBA0的步骤还包括：

发送1050个写命令写入LBA0中；

读取固态硬盘中Log page 02的最新512个字节并记录SMART log信息中最新的主机对固态硬盘的数据写入量以及SMART log信息中最新的主机对固态硬盘的写命令数；