[发明专利]一种基于超分和关键点的仪表盘识别方法在审
申请号: | 202210486601.2 | 申请日: | 2022-05-06 |
公开(公告)号: | CN114863413A | 公开(公告)日: | 2022-08-05 |
发明(设计)人: | 刘凯;郑德欣;徐娟 | 申请(专利权)人: | 上海锡鼎智能科技有限公司 |
主分类号: | G06V20/62 | 分类号: | G06V20/62;G06V10/24;G06V10/774;G06V10/82;G06N3/04;G06N3/08 |
代理公司: | 上海和华启核知识产权代理有限公司 31339 | 代理人: | 王仙子 |
地址: | 201599 上海市金*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 关键 仪表盘 识别 方法 | ||
1.一种基于超分和关键点的仪表盘识别方法,其特征在于,包括如下步骤:
通过生产相机以及高清相机拍摄仪表并对图像进行预处理,分别获取仪表盘区域的真实图像以及高清图像;
通过真实图像和高清图像数据集进行建模,经过统计学习算法,设置不同条件分别得出模糊核池、噪声概率分布、噪声类型分布参数;
将模糊核池、噪声概率分布、噪声类型分布参数所有可能进行随机组合,获取生成训练真实图像的特征池;
高清图像经过特征池处理后,获取真实训练集,高清图像进行三次下/上双向采样,获取高清数据集;
将真实训练集以及高清数据集进行模型训练,并进行特征提取输出;
将特征提取输出结果送入到网络重建层,输出质量评估和关键点评估,并根据仪表刻度和指针的位置关系读取仪表示数。
2.如权利要求1所述的基于超分和关键点的仪表盘识别方法,其特征在于,所述预处理包括如下步骤:
通过目标检测获取仪表的仪表盘区域裁剪图像,并通过关键点检测模型获取仪表盘区域的四个角点坐标信息;
利用仪表盘区域的四个角点信息,对仪表盘区域进行矫正。
3.如权利要求2所述的基于超分和关键点的仪表盘识别方法,其特征在于,对仪表盘区域进行矫正的变换公式为:
其中(x,y,1)为变换前坐标,(X,Y,Z)为变换后坐标。
4.如权利要求1所述的基于超分和关键点的仪表盘识别方法,其特征在于,设置不同条件分别得出模糊核池、噪声概率分布、噪声类型分布参数的计算公式为:
其中,Xi表示第i个对象,1≤i≤n;Cj表示第j个对象,1≤i≤k;Xit表示第i个对象的第t个属性,1≤t≤m;Cjt表示第j个对象的第t个属性。
5.如权利要求1所述的基于超分和关键点的仪表盘识别方法,其特征在于,所述特征提取输出采用7个3×3CNN网络进行。
6.如权利要求1所述的基于超分和关键点的仪表盘识别方法,其特征在于,所述质量评估的损失函数为:
其中,yi为真实值,f(xi)为预估值。
7.如权利要求1所述的基于超分和关键点的仪表盘识别方法,其特征在于,所述关键点评估的损失函数为:
其中,f为关键点置信度误差,为关键点横坐标的置信度误差,为关键点纵坐标的置信度误差,W(p)为偏置系数,J是横坐标集合,C是纵坐标集合,为预测关键点的横坐标,为预测关键点的纵坐标,为实际关键点的横坐标,为实际关键点的纵坐标。
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