[发明专利]一种针对信息处理微系统总线接口的测试系统及测试方法在审
| 申请号: | 202210472219.6 | 申请日: | 2022-04-29 |
| 公开(公告)号: | CN114966366A | 公开(公告)日: | 2022-08-30 |
| 发明(设计)人: | 秦贺;冯长磊;陈雷;张彦龙;李晓龙;武昊男;魏晓飞;阎渊海;张拓;王炳雅;苏浩淼 | 申请(专利权)人: | 北京时代民芯科技有限公司;北京微电子技术研究所 |
| 主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
| 代理公司: | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人: | 张辉 |
| 地址: | 100076 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 针对 信息处理 系统 总线接口 测试 方法 | ||
1.一种针对信息处理微系统总线接口的测试系统,其特征在于:包括测试设备(15)、测试板(4)和测试线缆(13);
测试设备(15)包含总线接口测试单元(14)、测试主控单元(16)、电源控制单元(17)、数据存储单元(18)、通信单元(19)以及时序同步单元(21);测试板(4)上搭载信息处理微系统(5)和时序模块(2);
信息处理微系统(5)包括微系统主控单元(6)、测试程序存储单元(7)、可重构数据处理单元(9)以及各总线接口单元(10),微系统主控单元(6)、测试程序存储单元(7)、可重构数据处理单元(9)三者通过数据地址总线(8)实现通信;测试设备(15)上的总线接口测试单元(14)与信息处理微系统(5)的总线接口单元(10)通过测试线缆(13)连接;测试设备(15)上的通信单元(19)与信息处理微系统(5)上的微系统主控单元(6)通过通信总线(1)连接;测试设备(15)上的时序同步单元(21)与测试板(4)上的时序模块(2)通过时序线缆(20)连接,为测试提供时钟供给与时序同步;
测试板(4)上的时序模块(2)通过测试板(4)上的时钟走线(3)为信息处理微系统(5)提供测试时需要的系统时钟、同步时钟。
2.根据权利要求1所述的一种针对信息处理微系统总线接口的测试系统,其特征在于:测试板(4)上还搭载有总线接口外围电路(12);
对于测试设备(15)上的总线接口测试单元(14)不能直接测试的总线接口单元(10),测试连接方式如下:
测试设备(15)上的总线接口测试单元(14)与测试板(4)上的总线接口外围电路(12)通过测试线缆(13)连接,测试板(4)上的总线接口外围电路(12)通过测试板(4)上的总线接口走线(11)与信息处理微系统(5)内部的总线接口单元(10)连接。
3.根据权利要求2所述的一种针对信息处理微系统总线接口的测试系统,其特征在于:测试板(4)上的总线接口外围电路(12)为信息处理微系统(5)中总线接口单元(10)提供测试所需的耦合匹配、电平转换或协议驱动功能。
4.根据权利要求1所述的一种针对信息处理微系统总线接口的测试系统,其特征在于:
总线接口测试单元(14)包括各类总线接口的专用测试设备或板卡;
测试主控单元(16)为搭载操作系统的控制器,用于执行对信息处理微系统总线接口的测试,将测试数据与测试结果发送给数据存储单元(18);
电源控制单元(17)为多通道的程控电源,为信息处理微系统供电;
时序同步单元(21)为多通道时钟源,为信息处理微系统提供时钟供给与时序同步;
数据存储单元(18)实现测试数据与测试结果存储;
通信单元(19)实现测试设备和信息处理微系统之间通讯。
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