[发明专利]一种复合继电器IGBT故障检测方法及检测电路

权利要求书

1.一种复合继电器IGBT故障检测方法，其特征在于，包括如下步骤：

S10，通过采集控制信号得出IGBT的控制状态，通过采集IGBT支路电流信号得出通过IGBT支路的电流大小，

若控制信号为高电平，表明复合继电器开始动作，执行S20，

若控制信号为低电平且通过IGBT的电流为零，重新执行S10，

若控制信号为低电平且通过IGBT的电流不为零，判定IGBT被击穿；

S20，对通过IGBT支路的电流ADC采样，在每个采样周期内，

若采样电流大于第一电流预设值，表明电弧能量产生的电流开始向IGBT支路转移，执行S30，

若采样电流不大于第一电流预设值且S20的总执行时间不大于第一时间预设值，重新执行S20，

若采样电流不大于第一电流预设值且S20的总执行时间大于第一时间预设值，判定IGBT已失效；

S30，对通过IGBT支路的电流ADC采样，在每个采样周期内，

若采样电流大于第二电流预设值，表明电弧能量产生的电流已向IGBT支路转移结束，执行S40，

若采样电流不大于第二电流预设值且S30的总执行时间不大于第二时间预设值，重新执行S30，

若采样电流不大于第二电流预设值且S30的总执行时间大于第二时间预设值，判定IGBT已失效；

S40，计算电流转移时间，电流转移时间为S30的总执行时间，

若电流转移时间不大于第三时间预设值，表明IGBT能够正常运行，

若电流转移时间大于第三时间预设值，判定IGBT老化严重。

2.根据权利要求1所述的一种复合继电器IGBT故障检测方法，其特征在于，所述S20的执行时间通过执行S20时的电流ADC采样次数进行判定，所述S30的执行时间通过执行S30时的电流ADC采样次数进行判定。

3.一种复合继电器IGBT故障检测电路，其特征在于，包括供电部分和故障检测部分，所述故障检测部分包括微控制器MCU、连接至MCU的线圈控制信号采集模块和IGBT电流采集模块，其中：

线圈控制信号采集模块用于采集控制信号并输送至MCU，

IGBT电流采集模块用于采集通过IGBT支路的电流信号并输送至MCU，

所述MCU依据线圈控制信号采集模块与IGBT电流采集模块输入的信号对IGBT进行故障识别。

4.根据权利要求3所述的一种复合继电器IGBT故障检测电路，其特征在于，所述IGBT电流采集模块包括电流传感器和隔离电路，所述电流传感器串接至IGBT所在支路，电流传感器采集到的电流信号通过隔离电路输送至MCU。

5.根据权利要求3所述的一种复合继电器IGBT故障检测电路，其特征在于，所述MCU包括两路高速ADC，分别用于接收线圈控制信号采集模块输入的控制信号和IGBT电流采集模块输入的电流信号。

6.根据权利要求3所述的一种复合继电器IGBT故障检测电路，其特征在于，所述MCU无线通信连接有监测中心。