[发明专利]一种运算放大器功能测试系统

说明书

本发明公开了一种运算放大器功能测试系统，包括双路运放环模块、STS8200测试机和DUT板；所述双路运放环模块内部含有辅助运算放大器和光电开关，通过输入不同的光电开关控制信号和测量VI源完成被测运放产品相应的测试外围电路的搭建与切换，STS8200测试机为双路运放环模块提供所需的VI源、ACS、ACM、QTMU和光电开关控制信号等资源，并完成从双路运放环模块输出的被测运放产品各项参数测试的数据处理和结果显示；DUT板上分别设有与STS8200测试机、双路运放环模块以及被测运放产品的接口。本发明模块化连接，便于快速组装、替换和模块升级；支持现有STS8200测试机，可以通过STS8200测试机编程控制双路运放环模块实现不同运放功能测试项目的测试。

技术领域

本发明属于集成电路测试技术领域，具体是涉及一种运算放大器功能测试系统。

背景技术

运算放大器简称运放(operational amplifier,简称OPA)。运放能对信号进行数学运算的放大电路。采用集成电路工艺制作的运算放大器，除保持了原有的很高的增益和输入阻抗的特点之外，还具有精巧、廉价和可灵活使用等优点。运放广泛用于工业控制、医疗设备、安防监控设备、仪器仪表、汽车电子、智能家居以及消费类电子等领域。

运放FT (Function Test)测试的意义和作用是检验产品功能是否存在问题，现有的测试装置使用起来不方便，且测试参数不全面。

发明内容

本发明的目的在于针对上述问题，提供一种运算放大器功能测试系统，构建运算放大器功能测试系统使用起来更方便，提升测试工作效率，且测试参数更加全面。

本发明的技术方案是这样实现的。

一种运算放大器功能测试系统，其特征在于，包括双路运放环模块、STS8200测试机和 DUT板；

所述双路运放环模块内部含有辅助运算放大器和光电开关，外部设有被测运放产品输入管脚、光电开关控制信号输入管脚和测量VI源输入管脚，并通过输入不同的光电开关控制信号和测量VI源完成被测运放产品相应的测试外围电路的搭建与切换，并将测试参数输出至STS8200测试机；

所述STS8200测试机为双路运放环模块提供所需的VI源、交流信号源、精密交流表、四通道时间测量模块和光电开关控制信号等资源，并完成从双路运放环模块输出的被测运放产品各项参数测试的数据处理和结果显示；

所述DUT板连接分选机，DUT板上分别设有与STS8200测试机连接的排线接口，与双路运放环模块的管脚连接的插孔，以及被测运放产品的接口，并且DUT板上集成有STS8200测试机连接的排线接口、双路运放环模块的管脚连接的插孔以及被测运放产品的接口之间相互实现信号传输的连接线路。

进一步地，所述双路运放环模块支持被测运放产品的输入失调电压VOS，输入偏执电流IB（IBP/IBN），输入失调电流IOS，开环电压增益AVO，共模抑制比，电源电压抑制比PSRR，输出电压摆幅VOH、VOL，输出源电流，输出漏电流VOH、IOL，电源电流IS，静态功耗PD，上升沿压摆率SR+，下降沿压摆率SR-，增益带宽积GBP等参数测试的外围电路搭建与切换。

进一步地，所述双路运放环模块适用于不同种类的运放产品的测试，提供多档可编程环路增益和补偿设置，STS8200测试机编程控制双路运放环模块完成待测IC外围电路搭建与切换。

进一步的，所述双路运放环模块采用2.54mm双排针结构，与DUT板上的插孔插接。

进一步的，所述DUT板上设有2个64PIN排线接口，通过排线与所述STS8200测试机连接。

进一步的，所述DUT板为狭长结构，从左到右依次设置被测运放产品接口、双路运放环模块管脚连接插孔和STS8200测试机排线接口。