[发明专利]一种防水薄膜胶带耐热强度缺陷检测方法及系统

权利要求书

1.一种防水薄膜胶带耐热强度缺陷检测方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：

获取薄膜压头的初始卸载刚度，根据所述初始卸载刚度得到薄膜的弹性模量；获取薄膜应力、薄膜厚度和薄膜均匀程度；

拉伸所述薄膜，获取拉伸后薄膜边缘的翘曲程度；根据所述翘曲程度、所述弹性模量和所述薄膜应力得到薄膜的实用性能；

基于所述实用性能，对多个薄膜进行聚类得到异常簇群；获取异常簇群内第一异常薄膜的第一占比；

基于所述第一异常薄膜，根据薄膜的实用性能的变化情况和所述薄膜均匀程度的变化情况确定薄膜的耐热性能；比较所述薄膜的耐热性能和预设标准耐热性能的大小，得到多个第二异常薄膜；第一异常薄膜的数量和第二异常薄膜的数量的比值为第二占比；

根据所述第一占比和所述第二占比得到耐热性能可信度，根据所述第一占比、所述第二占比和所述耐热性能可信度的大小对薄膜的生产流程进行评估。

2.根据权利要求1所述的一种防水薄膜胶带耐热强度缺陷检测方法，其特征在于，所述一种防水薄膜胶带耐热强度缺陷检测方法还包括：根据对薄膜的生产流程进行评估的评估结果生成并输出评估报告文件，用于计算机可视化。

3.根据权利要求1所述的一种防水薄膜胶带耐热强度缺陷检测方法，其特征在于，所述获取拉伸后薄膜边缘的翘曲程度，包括：

采用两种拉伸方式拉伸薄膜，包括宽边固定点拉伸薄膜和宽边整体拉伸薄膜；

基于宽边固定点拉伸薄膜，将拉伸后的薄膜放置于平面上，计算薄膜边缘各像素点与平面的第一翘曲距离，构建第一翘曲序列；获取所述第一翘曲序列的标准差、最大极差和序列均值；

基于宽边整体拉伸薄膜，将拉伸后的薄膜放置于平面上，计算薄膜边缘各像素点与平面的第二翘曲距离，构建第二翘曲序列；获取所述第二翘曲序列的方差；

所述翘曲程度的计算公式为：

其中，Q为所述翘曲程度；STD(d)为所述第一翘曲序列的标准差；Range(d)为所述第一翘曲序列的最大极差；mean(d)为所述第一翘曲序列的序列均值；tanh(mean(d))为以所述第一翘曲序列的序列均值为自变量的双曲正切函数；Var(d′)为所述第二翘曲序列的方差。

4.根据权利要求1所述的一种防水薄膜胶带耐热强度缺陷检测方法，其特征在于，所述根据所述翘曲程度、所述弹性模量和所述薄膜应力得到薄膜的实用性能，包括：

获取以自然常数为底，以负的所述翘曲程度为指数的指数函数；所述指数函数、所述弹性模量和所述薄膜应力的乘积为薄膜的实用性能。

5.根据权利要求1所述的一种防水薄膜胶带耐热强度缺陷检测方法，其特征在于，所述基于所述实用性能，对多个薄膜进行聚类得到异常簇群，包括：

基于所述实用性能，利用K-Means聚类算法对多个薄膜进行聚类得到多个簇群；

获取各所述簇群的簇质心，计算簇群内各点到所述簇质心的平均距离；最大平均距离对应的簇群为所述异常簇群。

6.根据权利要求1所述的一种防水薄膜胶带耐热强度缺陷检测方法，其特征在于，所述根据薄膜的实用性能的变化情况和所述薄膜均匀程度的变化情况确定薄膜的耐热性能，包括：

获取薄膜的薄膜温度；

所述耐热性能的计算公式为：

其中，U为所述耐热性能；e为自然常数；为薄膜的实用性能关于薄膜温度的导数；H为所述实用性能；T为所述薄膜温度；K_m为所述薄膜厚度；Min(K_m)为最小薄膜厚度；Max(K_m)为最大薄膜厚度；为的绝对值函数；为自定义激活窗函数。

7.根据权利要求1所述的一种防水薄膜胶带耐热强度缺陷检测方法，其特征在于，所述比较所述薄膜的耐热性能和预设标准耐热性能的大小，得到多个第二异常薄膜，包括：

所述薄膜的耐热性能减去所述预设标准耐热性能得到第一差值；小于预设差值阈值的第一差值对应的薄膜为第二异常薄膜。