[发明专利]一种p-GaN欧姆接触电极及其制备方法与应用在审
| 申请号: | 202210460707.5 | 申请日: | 2022-04-28 |
| 公开(公告)号: | CN114937593A | 公开(公告)日: | 2022-08-23 |
| 发明(设计)人: | 袁旭;于国浩;王哲明;赵德胜;张宝顺 | 申请(专利权)人: | 广东中科半导体微纳制造技术研究院;中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 |
| 主分类号: | H01L21/283 | 分类号: | H01L21/283 |
| 代理公司: | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人: | 李素兰 |
| 地址: | 528225 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 gan 欧姆 接触 电极 及其 制备 方法 应用 | ||
本发明公开了一种p‑GaN欧姆接触电极的制备方法,包括以下步骤:提供GaN基外延片,所述GaN基外延片的最上层为p型GaN层,对所述p型GaN层进行激活处理,得到第一GaN基外延片;在所述第一GaN基外延片的p型GaN层上刻蚀,制备出欧姆接触区域,得到第二GaN基外延片;利用热磷酸溶液对所述第二GaN基外延片进行湿法腐蚀处理,清洗后得到第三GaN基外延片;在所述第三GaN基外延片的欧姆接触区域积淀金属,并通过退火工艺对金属进行合金处理,完成p‑GaN欧姆接触电极的制备。本发明能够明显提高p‑GaN材料的欧姆接触性能。
技术领域
本发明涉及半导体材料与器件技术领域,尤其涉及一种p-GaN欧姆接触电极及其制备方法与应用
背景技术
GaN材料的研究与应用是目前全球半导体研究的前沿和热点,是研制微电子器件、光电子器件的新型半导体材料,并与SIC、金刚石等半导体材料一起,被誉为第三代半导体材料。它具有宽的直接带隙、强的原子键、高的热导率、化学稳定性好等性质和强的抗辐照能力,在光电子、高温大功率器件和高频微波器件应用方面有着广阔的前景。虽然GaN基器件在近年来取得了相当大的进展,但是其较难实现低阻的p型GaN欧姆接触,使得GaN基高温大功率器件的研制一直受到限制。
实现p-GaN欧姆接触的难点有以下几个方面:
(1)p-GaN载流子浓度不高;(2)缺少一种合适的接触金属,另外金属化工艺条件也会影响p-GaN接触电阻;(3)GaN表面具有化学活性,容易吸收氧原子,从而在表面形成一氧化层。(4)在刻蚀后的表面制作欧姆接触,特性会变差。刻蚀造成的损伤导致N空位形成,p型欧姆接触更加困难。想要获得高质量的p型欧姆接触,就要解决上述的问题。
发明内容
本发明所要解决的技术问题在于,提供一种p-GaN欧姆接触电极的制备方法,其能提高p-GaN材料的欧姆接触性能。
本发明所要解决的技术问题还在于,提供一种p-GaN欧姆接触电极,其具有良好的欧姆接触特性。
为了解决上述技术问题,本发明提供了一种p-GaN欧姆接触电极的制备方法,包括以下步骤:
提供GaN基外延片,所述GaN基外延片的最上层为p型GaN层,对所述p型GaN层进行激活处理,得到第一GaN基外延片;
在所述第一GaN基外延片的p型GaN层上刻蚀,制备出欧姆接触区域,得到第二GaN基外延片;
利用热磷酸溶液对所述第二GaN基外延片进行湿法腐蚀处理,清洗后得到第三GaN基外延片;
在所述第三GaN基外延片的欧姆接触区域积淀金属,并通过退火工艺对金属进行合金处理,完成p-GaN欧姆接触电极的制备。
为了解决上述技术问题,本发明提供了另一种p-GaN欧姆接触电极的制备方法,包括以下步骤:
提供GaN基外延片,所述GaN基外延片的最上层为p型GaN层,对所述p型GaN层进行激活处理,得到GaN基外延片A;
利用热磷酸溶液对所述GaN基外延片A进行湿法腐蚀处理,清洗后得到GaN基外延片B;
在所述GaN基外延片B的p型GaN层上光刻,制备出欧姆接触区域,得到GaN基外延片C;
在所述GaN基外延片C的欧姆接触区域积淀金属,并通过退火工艺对金属进行合金处理,完成p-GaN欧姆接触电极的制备。
在一种实施方式中,利用热磷酸溶液进行湿法腐蚀处理过程中,腐蚀时间为2-6h,溶液温度为60-100℃。
优选地,利用热磷酸溶液进行湿法腐蚀处理过程中,腐蚀时间为3-4h,溶液温度为70-90℃。
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