[发明专利]Demura补偿参数计算方法、装置及设备有效
| 申请号: | 202210459154.1 | 申请日: | 2022-04-28 | 
| 公开(公告)号: | CN114582268B | 公开(公告)日: | 2022-07-08 | 
| 发明(设计)人: | 闻铭;梅林海 | 申请(专利权)人: | 武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司 | 
| 主分类号: | G09G3/20 | 分类号: | G09G3/20;G09G3/32 | 
| 代理公司: | 武汉智权专利代理事务所(特殊普通合伙) 42225 | 代理人: | 张凯 | 
| 地址: | 430205 湖北省武*** | 国省代码: | 湖北;42 | 
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | demura 补偿 参数 计算方法 装置 设备 | ||
本发明提供一种Demura补偿参数计算方法、装置及设备。该方法包括:基于全局目标颜色值确定每个像素点经过Demura处理后的模拟颜色值,计算每个像素点对应的模拟颜色值与全局目标颜色值的误差值;确定待补偿面板上每个像素点的相邻像素点对应的分配系数,并基于所述分配系数以及误差值,得到每个像素点的相邻像素点对应的分配值;以每个像素点对应的模拟颜色值以及总分配值的和以及实际颜色值,计算每个像素点对应的Demura补偿参数。通过本发明,可减少由于截断处理带来的Demura误差,从而提高了Demura处理效果,保证了显示面板的亮色度均匀性,提升显示面板的显示效果。
技术领域
本发明涉及显示面板技术领域,尤其涉及一种Demura补偿参数计算方法、装置及设备。
背景技术
是以小尺寸的LED(mini-LED或micro-LED)为独立发光像素的新型显示面板,具有响应快、色域广、亮度高和节能等优点。区别于传统显示面板(如LCD)的像素加工工艺,这种新型显示面板的成像像素具有pickplace和灯珠混合过程,即像素级LED提取(pick)自多片wafer,并对不同波长进行混合后重新安放(place)到显示面板背板上的过程。因此,这种新型显示面板具有明显的亮色度非均匀性,通常需要进行亮色度均匀性校正(Demura)才能将亮色度均匀性提高到一定指标范围,之后才能正常使用。
现有的Demura处理流程中,在计算每个像素点对应的补偿参数时容易有超过[0,1]范围的值,而处理方式为将超过[0,1]范围的值进行截断处理,即出界的值直接用0或1代替,这样便会导致最终的Demura处理效果不佳,仍有一定程度的亮色度非均匀性残留。
发明内容
本发明的主要目的在于提供一种Demura补偿参数计算方法、装置及设备,旨在解决现有技术中Demura处理效果不佳,仍有一定程度的亮色度非均匀性残留的技术问题。
第一方面,本发明提供一种Demura补偿参数计算方法,所述Demura补偿参数计算方法包括:
基于全局目标颜色值确定每个像素点经过Demura处理后的模拟颜色值,计算每个像素点对应的模拟颜色值与全局目标颜色值的误差值;
确定待补偿面板上每个像素点的相邻像素点对应的分配系数,并基于所述分配系数以及误差值,得到每个像素点的相邻像素点对应的分配值;
以每个像素点对应的模拟颜色值以及总分配值的和作为每个像素点对应的局部目标颜色值;
基于每个像素点对应的局部目标颜色值以及实际颜色值,计算每个像素点对应的Demura补偿参数。
可选的,所述确定待补偿面板上每个像素点的相邻像素点对应的分配系数的步骤包括:
基于待补偿面板上每个像素点的相邻像素点的方位,确定相邻像素点对应的分配系数。
可选的,所述确定待补偿面板上每个像素点的相邻像素点对应的分配系数的步骤包括:
根据待补偿面板上每个像素点的相邻像素点的方位以及相邻像素点的实际颜色与全局目标颜色的差异值,确定相邻像素点对应的分配系数。
可选的,水平、竖直方位的相邻像素点对应的分配系数大于对角线方位的相邻像素点对应的分配系数。
可选的,所述差异值包括9个通道对应的差异值,所述分配系数包括9个通道对应的分配系数,所述误差值包括9个通道对应的误差值,所述9个通道为RGB三原色在XYZ色彩体系下的9个通道。
可选的,所述确定待补偿面板上每个像素点的相邻像素点对应的分配系数的步骤通过并行方式进行。
可选的,在所述基于每个像素点对应的局部目标颜色值以及实际颜色值,计算每个像素点对应的Demura补偿参数的步骤之后,还包括:
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