[发明专利]一种基于无监督学习的低剂量CT图像恢复方法及系统在审

专利信息
申请号: 202210424881.4 申请日: 2022-04-22
公开(公告)号: CN114708352A 公开(公告)日: 2022-07-05
发明(设计)人: 李章勇;王芸;伍佳;黄志伟;秦对 申请(专利权)人: 重庆邮电大学
主分类号: G06T11/00 分类号: G06T11/00;G06T5/00;G06T5/50;G06K9/62;G06V10/80
代理公司: 重庆辉腾律师事务所 50215 代理人: 卢胜斌
地址: 400065 重*** 国省代码: 重庆;50
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 基于 监督 学习 剂量 ct 图像 恢复 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种基于无监督学习的低剂量CT图像恢复方法,其特征在于,包括:

S1.获取低剂量CT图像并归一化,采用全变分模型分解归一化图像,得到基础层图像和细节层图像;

S2.对基础层图像进行下采样,得到内容特征层图像和潜在纹理层图像,对内容特征层图像进行图像增强得到基础层增强图像;

S3.基于预训练的去噪处理器,对细节层图像进行降噪处理得到细节层降噪图像;

S4.将潜在纹理层图像、基础层增强图像和细节层降噪图像分段融合得到低剂量CT恢复图像。

2.根据权利要求1所述的一种基于无监督学习的低剂量CT图像恢复方法,其特征在于,步骤S1具体包括:

S11.将低剂量CT图像归一化得到归一化图像,利用全变分模型分解归一化图像得到基础层图像;

S12.将归一化图像图像与基础层图像进行差值运算,得到细节层图像,表示为:

Idet(x,y)=I(x,y)-Ibase(x,y);

其中,I(x,y)表示归一化图像,Ibase(x,y)表示基础层图像,Idet(x,y)表示细节层图像。

3.根据权利要求1所述的一种基于无监督学习的低剂量CT图像恢复方法,其特征在于,全变分模型中根据全变分原理提出的最小化能量泛函表达式为:

其中,Ibase(x,y)表示基础层图像,I(x,y)表示归一化图像,λ为正则化参数,正则化参数计算公式为:

M与N分别分别表示归一化图像的宽与高,*表示卷积操作,Ts为卷积矩阵。

4.根据权利要求1所述的一种基于无监督学习的低剂量CT图像恢复方法,其特征在于,对基础层图像的处理过程:

S21.连续使用三个步长为2的卷积层,从基础层图像中提取出内容特征层图像;

S22.使用一个步长为2的卷积层,从内容特征层图像中获取潜在纹理层图像;

S23.对内容特征层图像进行图像增强,包括:

采用索贝尔卷积算子A对内容特征层图像进行卷积运算,得到水平边缘增强图像,水平边缘增强图像和索贝尔算子A分别表示为:

Gx=Ibase1(x,y)*A;

采用索贝尔卷积算子B对内容特征层图像进行卷积运算,得到垂直边缘增强图像,垂直边缘增强图像和索贝尔算子B分别表示为:

Gy=Ibase1(x,y)*B;

融合水平边缘增强图像与垂直边缘增强图像,得到基础层增强图像,表示为:

其中,Ibase1(x,y)表示内容特征层图像,I′base1(x,y)为基础层增强图像。

5.根据权利要求1所述的一种基于无监督学习的低剂量CT图像恢复方法,其特征在于,预训练的去噪处理器的训练过程为:

获取低剂量CT图像并归一化,采用全变分模型对其分解得到细节层图像;

将细节层图像下采样得到低分辨率图像,根据低分辨率图像构建与其相似的子图像组;

采用低剂量CT图像和子图像组训练去噪处理器;

其中,子图像组包括多张相似子图像,分别用于替代低分辨率图像所对应的清晰的低剂量CT图像和有噪声的低剂量CT图像。

6.根据权利要求5所述的一种基于无监督学习的低剂量CT图像恢复方法,其特征在于,细节层图像进行去噪处理的过程中,采用的损失函数为:

其中,Ns为细节层图像数量,Idet1=si+ni表示低分辨率图像,表示低分辨率图像的相似的子图像。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于重庆邮电大学,未经重庆邮电大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202210424881.4/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top