[发明专利]一种MEMS扫描镜的停摆检测方法、装置及激光雷达有效
| 申请号: | 202210423543.9 | 申请日: | 2022-04-21 |
| 公开(公告)号: | CN114859328B | 公开(公告)日: | 2023-05-05 |
| 发明(设计)人: | 陈森柯;夏冰冰;石拓 | 申请(专利权)人: | 北京一径科技有限公司 |
| 主分类号: | G01S7/497 | 分类号: | G01S7/497;G01S17/08 |
| 代理公司: | 北京善任知识产权代理有限公司 11650 | 代理人: | 王大方;孟桂超 |
| 地址: | 100089 北京市海淀区东北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 mems 扫描 停摆 检测 方法 装置 激光雷达 | ||
1.一种微机电系统MEMS扫描镜的停摆检测方法,其特征在于,包括:
获得激光雷达在预设时长内产生的原始点云;
生成预设测距值对应的辅助点云,所述辅助点云中的各个辅助扫描点与所述原始点云中的各个原始扫描点一一对应,且对应的所述辅助扫描点和所述原始扫描点的发射角度相同;
对所述辅助扫描点进行聚类处理,以得到聚类块;
当所述聚类块的数量大于预设阈值时,确定所述MEMS扫描镜在所述预设时长内停止扫描摆动;
其中,所述生成预设测距值对应的辅助点云,包括:
根据所述预设测距值以及所述原始扫描点的发射角度,生成所述辅助扫描点;
将所述辅助扫描点的坐标由球坐标系转换为直角坐标系,生成所述辅助点云;
其中,所述辅助点云中的各个辅助扫描点在直角坐标系中的坐标由以下公式获得:
xi=D×cos(elei)×sin(azii);
yi=D×cos(elei)×cos(azii);
zi=D×sin(elei);
其中,xi为第i个辅助扫描点的x轴坐标,yi为所述第i个辅助扫描点的y轴坐标,zi为所述第i个辅助扫描点的z轴坐标,D为所述预设测距值,elei为所述第i个辅助扫描点的高度角,azii为所述第i个辅助扫描点的方位角。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在所述确定所述MEMS扫描镜在所述预设时长内停止扫描摆动之后,所述方法还包括:
确定所述MEMS扫描镜在连续的多个所述预设时长内停止扫描摆动;
输出告警信息,并控制所述激光雷达的激光器关闭,所述告警信息用于提示所述MEMS扫描镜异常。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述确定所述MEMS扫描镜在所述预设时长内停止扫描摆动,包括:
确定所述原始点云为停摆点云,所述停摆点云用于表示所述MEMS扫描镜在所述预设时长内停止扫描摆动。
4.根据权利要求1至3任一项所述的方法,其特征在于,所述对所述辅助扫描点进行聚类处理,包括:
采用欧式聚类算法,对所述辅助扫描点进行聚类处理。
5.根据权利要求1至3任一项所述的方法,其特征在于,所述预设阈值至少根据所述激光雷达的子视场数量确定。
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