[发明专利]一种断路器特性测试方法及装置在审

专利信息
申请号: 202210411375.1 申请日: 2022-04-19
公开(公告)号: CN114755571A 公开(公告)日: 2022-07-15
发明(设计)人: 蔡东林;王善渊;陈群静;赖小养;林春木;傅晋民;罗世荣;蔡宜航;施紫薇;陈永往 申请(专利权)人: 国网福建省电力有限公司晋江市供电公司
主分类号: G01R31/327 分类号: G01R31/327;G01R1/04
代理公司: 福州市博深专利事务所(普通合伙) 35214 代理人: 张明
地址: 362299 福建省泉州市*** 国省代码: 福建;35
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摘要:
搜索关键词: 一种 断路器 特性 测试 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种断路器特性测试方法,其特征在于,包括步骤:

S1、获取待测的断路器型号;

S2、根据断路器型号完成对断路器的测试并获取测试数据;

S3、根据断路器型号获取与断路器型号对应的功能测试标准,根据功能测试标准和测试数据判断断路器是否合格。

2.根据权利要求1所述的一种断路器特性测试方法,其特征在于,所述步骤S3还包括:

将所述测试数据与断路器是否合格的结果发送至外部的手机和公司内网系统。

3.根据权利要求2所述一种断路器特性测试方法,其特征在于,

所述步骤S3还包括:获取当前时间,将当前时间、测试数据与断路器是否合格的结果一同发送至外部的手机和公司内网系统。

4.根据权利要求1所述的一种断路器特性测试方法,其特征在于,所述完成对断路器的测试具体包括依次对断路器完成解锁、储能、合闸、合闸线圈电阻值、分闸、分闸线圈电阻值、储能、重合闸、储能、合闸低跳和分闸低跳功能测试,所述测试数据包括合闸测试数据、合闸线圈电阻值测试数据、分闸测试数据、分闸线圈电阻值测试数据、重合闸测试数据、合闸低跳测试数据和分闸低跳测试数据。

5.根据权利要求1所述的一种断路器特性测试方法,其特征在于,所述步骤S3中若判断测试不合格,则根据测试数据判断疑是故障点。

6.一种断路器特性测试装置,包括PCB电路板和存储在PCB电路板上并可在PCB电路板上运行的计算机程序,其特征在于,所述PCB电路板执行所述计算机程序时实现以下步骤:

S1、获取待测的断路器型号;

S2、根据断路器型号完成对断路器的测试并获取测试数据;

S3、根据断路器型号获取与断路器型号对应的功能测试标准,根据功能测试标准和测试数据判断断路器是否合格。

7.根据权利要求6所述的一种断路器特性测试装置,其特征在于,所述步骤S3还包括:

将所述测试数据与断路器是否合格的结果发送至外部的手机和公司内网系统。

8.根据权利要求7所述的一种断路器特性测试装置,其特征在于,

所述步骤S3还包括:获取当前时间,将当前时间、测试数据与断路器是否合格的结果一同发送至外部的手机和公司内网系统。

9.根据权利要求6所述的一种断路器特性测试装置,其特征在于,所述完成对断路器的测试具体包括依次对断路器完成解锁、储能、合闸、合闸线圈电阻值、分闸、分闸线圈电阻值、储能、重合闸、储能、合闸低跳和分闸低跳功能测试,所述测试数据包括合闸测试数据、合闸线圈电阻值测试数据、分闸测试数据、分闸线圈电阻值测试数据、重合闸测试数据、合闸低跳测试数据和分闸低跳测试数据。

10.根据权利要求6所述的一种断路器特性测试装置,其特征在于,所述步骤S3中若判断测试不合格,则根据测试数据判断疑是故障点。

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