[发明专利]孔轴偏移量检测治具及其作业方法

说明书

本发明公开了一种孔轴偏移量检测治具及其作业方法，其中，孔轴偏移量检测治具、第一基板、第二基板、固定装置和检测装置，第一基板上设有定位轴和定位孔之任一者，第二基板上设有定位轴和定位孔之另一者，第二基板装配于第一基板时，定位轴插接于定位孔，固定装置用于将第一基板固定在底座上，检测装置用于检测二基板装配于第一基板后，直线推动第二基板时第一基板和第二基板之间的最大相对位移量，以检测定位孔和/或定位轴的偏移量，因此，本发明的孔轴偏移量检测治具能够准确地检测定位孔和/或定位轴的偏移量，从而能够准确判断定位孔和/或定位轴的偏移量是否符合标准，并且，本发明的孔轴偏移量检测治具的结构简单。

技术领域

本发明涉及零件检测技术领域，尤其涉及一种孔轴偏移量检测治具及其作业方法。

背景技术

在对芯片进行测试时，需要将芯片移动至梭车的容纳槽中，一般通过送料载具将芯片从容纳槽中移出进行测试或将测试完成的芯片放入梭车的容纳槽，为了保证转移过程中送料载具能够准确吸取芯片并保证芯片不会偏移，会在梭车上设置定位轴，在送料载具上设置与定位轴配合的定位孔以实现对送料载具的定位。定位轴和定位孔频繁插拔容易产生磨损，但芯片测试对芯片定位要求极高，比如当定位孔的磨损偏移量超过0.2mm就会导致定位不准使芯片出现损伤，因此需要定期对定位孔进行测量，对定位孔磨损量超标的送料载具进行报废处理。

目前一般通过塞规对定位孔的磨损量进行测量，但是定位孔是与梭车定位柱契合从而达到定位的目的，塞规只能测量定位孔的偏移量是否超标以判断磨损量是否超标，无法测量定位孔和定位轴的组合偏移量，使得测量的偏移量不准确，容易导致出现定位孔的偏移量测量合格，但测试中还是出现芯片损伤的问题。当然，其他使用定位轴和或定位孔的技术领域也容易出现因无法准确测量定位孔和定位轴的偏移量，而无法正确判断定位孔和定位轴的偏移量是否符合标准。

发明内容

本发明的目的在于提供一种孔轴偏移量检测治具，能够准确测量定位孔和/或定位轴的偏移量，以准确判断定位孔和/或定位轴的偏移量是否符合标准。

本发明的另一目的在于提供一种孔轴偏移量检测治具的作业方法，能够准确测量定位孔和/或定位轴的偏移量，以准确判断定位孔和/或定位轴的偏移量是否符合标准。

为实现上述目的，本发明提供了一种孔轴偏移量检测治具，包括：

底座；

第一基板和第二基板，所述第一基板上设置有定位轴和定位孔之任一者，所述第二基板上设置有所述定位轴和所述定位孔之另一者，所述第二基板装配于所述第一基板时，所述定位轴插接于所述定位孔；

固定装置，所述固定装置用于将所述第一基板固定在所述底座上；

检测装置，所述检测装置用于检测所述第二基板装配于所述第一基板后，直线推动所述第二基板时所述第一基板和所述第二基板之间的最大相对位移量，以检测出所述定位孔和/或所述定位轴的偏移量。

可选的，所述底座设有用于安装所述检测装置的安装部。

可选的，所述安装部形成有安装槽，所述检测装置安装于所述安装槽内，所述安装槽朝向所述第一基板和所述第二基板的一侧开设有开口，所述检测装置通过所述开口检测所述第一基板和所述第二基板之间的最大相对位移量。

可选的，所述检测装置包括千分表，所述千分表安装于所述安装部，所述千分表的测杆被配置为可在所述第二基板的被推动方向上伸缩以抵接在处于不同位置的所述第二基板。

可选的，所述检测装置包括测距传感器，所述测距传感器安装于所述安装部，所述测距传感器用于检测所述第二基板的位置变化以检测所述第一基板和所述第二基板之间的最大相对位移量。