[发明专利]基于电容测量的网线水晶头压接状态快速测试方法

权利要求书

1.基于电容测量的网线水晶头压接状态快速测试方法，其特征在于，操作步骤如下：

S1：当测试开始时，微处理器持续处于低功耗模式，当微处理器的看门狗模块达到设定时间时，开始对微处理器唤醒；

S2：微处理器使能U3、U12，将U12_Z设置为高电平，此时控制待测通道的电容开始充电，给U3_EN/U12_EN低电平以使能U3/U12，将U3_Z相连的微处理器端口设置为输入中断触发源，将U3_0-U3_M设置得与待测端口相匹配，U12_0-U12_M亦然；

S3：当待测通道的电容充电完成后，开启微处理的外部，中断使能，将U12_EN设置为低电平以去掉U12的使能，同时微处理器开始计时，U3_Z相连的处理器端口对应的外部中断触发，判断是否遍历全部端口，若是，则完成一次测试，若否，继续给U3_EN/U12_EN低电平以使能U3/U12，将微处理器唤醒，完成一轮测试；

S4：微处理器在测试电平的同时会选择通道选择器；

S5：定时器触发，退出低功耗模式，载入之前保存的端口数据，检测各端口状态(流程③)，并与保存的数据对比，判断是否有超过阈值的端口，若是，输出测试结果，若否，进入低功耗模式；

S6：对待测水晶头开始上电开机检测，检测各端口状态(流程③)并保存，设置定时器500ms触发一次，进入低功耗模式；

S7：U3_Z接入微处理器，当电容放电低于微处理器的低电平触发电平时，微处理器检测到这一翻转，微处理器完成计时；

S8：若水晶头接好了，则检测到的电容比插入之前变大，若水晶头没接好，电容和接入之前没有什么变化或变化较小。

2.根据权利要求1所述的基于电容测量的网线水晶头压接状态快速测试方法，其特征在于，步骤S4中，所述通道选择器由U3、U12以及可选的U2组成。

3.根据权利要求2所述的基于电容测量的网线水晶头压接状态快速测试方法，其特征在于，U3、U12两个通道选择器始终切换于同一通道，每轮测试微处理器将遍历所有通道。

4.根据权利要求1所述的基于电容测量的网线水晶头压接状态快速测试方法，其特征在于，步骤S7中，所述微处理器完成计时，这一计时与对应通道的电容相关。

5.根据权利要求1所述的基于电容测量的网线水晶头压接状态快速测试方法，其特征在于，步骤S3中，微处理器开始计时，U12对应的待测通道由输出高电平状态变为高阻状态。

6.根据权利要求1所述的基于电容测量的网线水晶头压接状态快速测试方法，其特征在于，步骤S3中，线缆中的电容储存的电量由U3_Z上的电阻R9释放。

7.根据权利要求1所述的基于电容测量的网线水晶头压接状态快速测试方法，其特征在于，步骤S7中，微处理器检测到的时间计时可以区分出对应端口的电容大小，从而在测试结果中表示。

8.根据权利要求1所述的基于电容测量的网线水晶头压接状态快速测试方法，其特征在于，步骤S3中，外部中断触发后，读取此时计时器的计数并保存至对应端口的表格内。