[发明专利]基于参考线及局部平面的位姿生成方法在审

专利信息
申请号: 202210371727.5 申请日: 2022-04-11
公开(公告)号: CN114782531A 公开(公告)日: 2022-07-22
发明(设计)人: 杨跞;范伟;左方睿;王思文 申请(专利权)人: 中科新松有限公司
主分类号: G06T7/73 分类号: G06T7/73;G06V10/77;G06V10/25;G06V10/74;G06K9/62
代理公司: 北京科石知识产权代理有限公司 11595 代理人: 徐红岗
地址: 201206 上海市浦东新区*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 基于 参考 局部 平面 生成 方法
【权利要求书】:

1.一种基于参考线及局部平面的位姿生成方法,包括以下步骤:

获取一个待定位工件的点云;

基于该工件上表面中的一个局部平面,抠取一平面点云;

基于所述平面点云的中心坐标Op′,构建坐标系Op′-Xp′-Yp′-Zp′作为初始位姿,其中,Xp′沿所述平面点云的长轴方向,Zp′沿所述局部平面的法线、朝向相机方向;

建立虚拟参考轴,该轴与相机坐标系Oc′-Xc′-Yc′-Zc′的Zc轴平行,且穿过待定位工件的所述局部平面处;

计算所述虚拟参考轴和Op′-Xp′-Yp′平面的相交点P;

将所述初始位姿Op′-Xp′-Yp′-Zp′平移至点P处,得到位姿Ot-Xt-Yt-Zt,

即可作为粗位姿输入到后续“精匹配”算法中。

2.根据权利要求1所述的位姿生成方法,其特征在于,采用ROI算法抠取工件上表面中的平面点云部分。

3.根据权利要求1所述的位姿生成方法,其特征在于,所述构建坐标系Op′-Xp′-Yp′-Zp′的方法包括:

对抠取的所述平面点云计算其中心坐标Op′;

计算所述局部平面的法线朝向,选择其朝向相机的方向,得到轴向Zp′;

将沿所述平面点云长轴的一个方向定为Xp′;

将Zp′和Xp′叉乘可获得轴Yp′,

由此可构建坐标系Op′-Xp′-Yp′-Zp′,作为所述初始位姿。

4.根据权利要求3所述的位姿生成方法,其特征在于:

对所述平面点云,使用主成分分析法得到所述局部平面的法线朝向。

5.根据权利要求1所述的位姿生成方法,其特征在于,所述虚拟参考轴可表达为参数方程形式:

其中,x,y,z为虚拟轴上某点的坐标,

t为自变量,取值为实数范围内任一点,

m1,m2,m3,v1,v2,v3:系数。

6.根据权利要求5所述的位姿生成方法,其特征在于,计算所述虚拟参考轴和Op′-Xp′-Yp′平面的相交点P的方法包括:

Op′-Xp′-Yp′平面可表示为:p1*(x-n1)+p2*(y-n3)+p3*(z-n3)=0

其中,(p1,p2,p3)为平面法向量,(n1,n2,n3)为平面上的一点;

将平面方程和虚拟参考轴的参数方程联立可解得:

进而求得所述交点P(m1+v1t,m2+v2t,m3+v3t)。

7.根据权利要求1所述的位姿生成方法,其特征在于,还包括以下步骤:

获取包含多个待定位工件的3D点云;

将其分割为一组只包含单个待定位工件的点云。

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