[发明专利]一种显微内窥镜的分辨率及工作距测试装置及测试方法在审

专利信息
申请号: 202210369405.7 申请日: 2022-04-08
公开(公告)号: CN114910252A 公开(公告)日: 2022-08-16
发明(设计)人: 廖家胜 申请(专利权)人: 上海树突精密仪器有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 南京华讯知识产权代理事务所(普通合伙) 32413 代理人: 刘小吉;王文岩
地址: 200040 上海市静安*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 显微 内窥镜 分辨率 工作 测试 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种显微内窥镜分辨率的测试装置,其特征在于,包括光源、分辨率板、靶标成像模块、待测显微内窥镜及第二成像装置,所述靶标成像模块包括管镜、显微物镜,在测试光路中,所述光源的光线依次经过所述分辨率板、所述管镜、所述显微物镜及所述待测显微内窥镜后于所述第二成像装置中成像;其中,所述靶标成像模块用于将所述分辨率板的图案成像于所述显微物镜的物方焦面上,调节所述显微物镜的物方焦面与所述待测显微内窥镜的物面重合,所述分辨率板的图案经所述靶标成像模块在所述待测显微内窥镜的物面上形成的像用于测试所述待测显微内窥镜的分辨率。

2.根据权利要求1所述的一种显微内窥镜分辨率的测试装置,其特征在于,还包括光轴调校模块,所述光轴调校模块用于使所述待测显微内窥镜的光轴与所述测试装置的系统光轴同轴。

3.根据权利要求1所述显微内窥镜分辨率的测试装置,其特征在于,还包括干涉测量模块,所述干涉测量模块用于测量所述显微内窥镜的工作距。

4.根据权利要求3所述显微内窥镜分辨率的测试装置,其特征在于,所述干涉测量模块包括二向色镜及时域OCT系统,所述二向色镜设置于所述管镜与所述显微物镜之间。

5.根据权利要求4所述显微内窥镜分辨率的测试装置,其特征在于,所述二向色镜在可见光波段透过率大于98%,对于所述短相干光源的激光波段反射率大于98%。

6.根据权利要求1所述的一种显微内窥镜分辨率的测试装置,其特征在于,还包括匀光板,所述匀光板设置于所述光源与所述分辨率板之间,其用于将所述光源的光线转变成面光。

7.根据权利要求1所述的一种显微内窥镜分辨率的测试装置,其特征在于,所述显微物镜的数值孔径大于所述待测显微内窥镜的数值孔径。

8.根据权利要求1所述的一种显微内窥镜分辨率的测试装置,其特征在于,所述待测显微内窥镜与所述显微物镜为物方介质相同类型的物镜。

9.根据权利要求1所述的一种显微内窥镜分辨率的测试装置,其特征在于,所述分辨率板的最高分辨率δ′,需满足如下公式:δ′≥(f1/f2)*δ0,式中,f1为所述管镜的有效焦距,f2为所述显微物镜的有效焦距,δ0为所述显微物镜的理论分辨率。

10.一种显微内窥镜分辨率的测试方法,通过权利要求1所述显微内窥镜分辨率的测试装置对显微内窥镜的分辨率进行测试,其特征在于,该测试方法包括以下步骤:

S1,使所述分辨率板所在平面与所述管镜的光轴垂直,且与所述管镜的焦平面重合;

S2,使所述显微物镜的安装基准面与所述管镜基准面平行;

S3,将所述待测显微内窥镜放于接近所述显微物镜物面的位置并使其光轴与所述测试装置系统光轴同轴;其中,利用光轴调校模块来调节所述待测显微内窥镜的光轴;

S4,打开所述光源,移动所述显微物镜及所述第二成像装置,所述第二成像装置对所述分辨率板的图案成像;其中,所述显微物镜及所述第二成像装置在移动过程中与所述测试装置的系统光轴同轴;

S5,根据所述第二成像装置对所述分辨率板图案的最佳分辨率,结合所述管镜的有效焦距及所述显微物镜的有效焦距,得出所述待测显微内窥镜的分辨率。

11.根据权利要求10中所述显微内窥镜分辨率的测试方法,其特征在于,在所述S3步骤中,所述光轴调校模块包括分光镜及第一成像装置。

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