[发明专利]一种基于CsPbBr3薄膜基板用光电性能检测系统在审
申请号: | 202210364118.7 | 申请日: | 2022-04-07 |
公开(公告)号: | CN114705966A | 公开(公告)日: | 2022-07-05 |
发明(设计)人: | 彭健;徐昌明;张暹阳;方锐 | 申请(专利权)人: | 武汉理工大学 |
主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26;G01R19/00;G01R1/04;G01R1/02 |
代理公司: | 安徽顺超知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 34120 | 代理人: | 徐文恭 |
地址: | 430070 湖*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 cspbbr3 薄膜 用光 性能 检测 系统 | ||
本发明公开了一种基于CsPbBr3薄膜基板用光电性能检测系统,涉及光电技术领域,一种基于CsPbBr3薄膜基板用光电性能检测系统,包括终端系统,所述终端系统分别信号连接有控制模块、飞行模块和检测模块,控制模块、飞行模块和检测模块信号连接有测试模块,该基于CsPbBr3薄膜基板用光电性能检测系统,可以对实时抽检的CsPbBr3薄膜基板进行数据的统计和分析,进而实现CsPbBr3薄膜基板不足处得到整体分析和融合,以至于在后续生产中对综合分析的问题数据得到有效的改善,进而降低CsPbBr3薄膜基板上故障点不能进行整合分析弊端,而造成CsPbBr3薄膜基板后续生产中残次品不能得到控制的弊端,大大的提高了CsPbBr3薄膜基板在抽检检测中能够整合采集和统计的便捷性。
技术领域
本发明涉及光电技术领域,特别涉及一种基于CsPbBr3薄膜基板用光电性能检测系统。
背景技术
近年来,一些钙钛矿结构的半导体材料,由于具有优良的光学吸收和电荷传导特性,成为目前太阳能电池领域的研究热点。相对于有机-无机杂化钙钛矿材料,全无机卤素钙钛矿材料(CsPbX3,X=Cl,Br,I)化学稳定性较高,且具有极高的荧光量子效率(高达90%)、荧光波长可调且覆盖整个可见光波段、线宽窄等特点,有望应用于新一代显示和照明技术中。此外,全无机钙钛矿材料具有极高的吸收系数,其光吸收能力比其它有机染料高10倍以上;而且它的八面体体系也有利于电子和空穴的传输,使得该材料具有高的载流子迁移率和较长的载流子寿命。
光电效应是指在高于某特定频率的电磁波照射下,某些物质内部的电子吸收能量后逸出而形成电流,即光生电。
经查阅文献得知,对于一种光电性能CsPbBr3薄膜基板在生产中,需要对CsPbBr3薄膜基板进行光电性能的检测时,虽然现有的检测系统能够精准的进行检测CsPbBr3薄膜基板的故障点,但是不能根据CsPbBr3薄膜基板上的故障点进行综合分析优化,进而CsPbBr3薄膜基板上的故障点只能单独的优化,根据优化后的CsPbBr3薄膜基板再进行检测,这样的方式不但造成CsPbBr3薄膜基板检测时不能综合分析优化,造成CsPbBr3薄膜基板检测优化的效率降低,也会造成CsPbBr3薄膜基板在检测优化中造成浪费资源的弊端等问题。
发明内容
本发明的目的在于至少解决现有技术中存在的技术问题之一,提供一种基于CsPbBr3薄膜基板用光电性能检测系统,能够解决CsPbBr3薄膜基板上的故障点只能单独的优化,根据优化后的CsPbBr3薄膜基板再进行检测,这样的方式不但造成CsPbBr3薄膜基板检测时不能综合分析优化,造成CsPbBr3薄膜基板检测优化的效率降低,也会造成CsPbBr3薄膜基板在检测优化中造成浪费资源的弊端的问题。
为实现上述目的,本发明提供如下技术方案:一种基于CsPbBr3薄膜基板用光电性能检测系统,包括终端系统,所述终端系统分别信号连接有控制模块、飞行模块和检测模块,控制模块、飞行模块和检测模块信号连接有测试模块,测试模块信号连接有故障点模块,故障点模块信号连接有成像模块,成像模块信号连接有显示端。
优选的,所述控制模块分别信号连接有测试夹具和电路设备。
优选的,所述测试夹具分别信号连接有一级光电设备、二级光电设备和三级光电设备,电路设备分别信号连接有一级电路模块、二级电路模块和三级电路模块。
优选的,所述检测模块分别信号连接有校正模块、分析模块和监测模块。
优选的,所述校正模块分别信号连接有编码模块和循环模块。
优选的,所述分析模块分别信号连接有极差分析模块和灵敏度分析模块。
优选的,所述监测模块分别信号连接有电压比模块和电流比模块。
优选的,所述成像模块分别信号连接有采集模块和计算模块。
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