[发明专利]一种镜面畸变检测方法、系统、设备及介质

权利要求书

1.一种镜面畸变检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

获取多张相位条纹图像；

利用条纹反射法获得被测镜面反射所述相位条纹图像的实物条纹图；

计算所述实物条纹图的像素的亮度；

利用所述实物条纹图的像素的亮度并根据三步相移法计算所述被测镜面的相位图；

根据所述相位图得到所述被测镜面的畸变大小。

2.根据权利要求1所述的一种镜面畸变检测方法，其特征在于，所述多张相位条纹图像为像素坐标中x方向或y方向的多张不同密度的条纹图像。

3.根据权利要求2所述的一种镜面畸变检测方法，其特征在于，所述计算所述实物条纹图的像素的亮度，包括：

通过如下公式计算所述实物条纹图的像素的亮度：

其中，所述ω₀为相位图像周期，所述N为所述相位条纹图像数目，所述I为所述实物条纹图的像素的亮度，所述x,y为像素坐标，所述a(x,y)为相位条纹光强的背景值，所述b(x,y)为相位条纹光强的调制强度，所述t为所述相位条纹图像的编号。

4.根据权利要求3所述的一种镜面畸变检测方法，其特征在于，所述第t张相位条纹图像的截取的相位条纹周期为其中，所述f为常数，取值为1或10或100。

5.根据权利要求4所述的一种镜面畸变检测方法，其特征在于，所述N为3，所述利用所述实物条纹图的像素的亮度并根据三步相移法计算所述被测镜面的相位图，包括：

根据三步相移法得到多个方程组：

其中，所述I₁为根据第一张相位条纹图获得的实物条纹图的像素的亮度，所述I₂为根据第二张相位条纹图获得的实物条纹图的像素的亮度，所述I₃为根据第三张相位条纹图获得的实物条纹图的像素的亮度；

根据所述多个方程组计算得到所述实物条纹图的相位公式：

根据所述相位公式与所述多个方程组计算得到所述被测镜面的相位图。

6.根据权利要求1所述的一种镜面畸变检测方法，其特征在于，所述被测镜面为任意可反光物体。

7.一种镜面畸变检测系统，其特征在于，包括：

数据获取模块，用于获取多张相位条纹图像；

条纹反射模块，用于利用条纹反射法获得被测镜面反射所述相位条纹图像的实物条纹图；

亮度计算模块，用于计算所述实物条纹图的像素的亮度；

数据计算模块，用于利用所述实物条纹图的像素的亮度并根据三步相移法计算所述被测镜面的相位图；

数据输出模块，用于根据所述相位图得到所述被测镜面的畸变大小。

8.根据权利要求7所述的一种镜面畸变检测系统，其特征在于，所述多张相位条纹图像为像素坐标中x方向或y方向的多张不同密度的条纹图像。

9.一种镜面畸变检测设备，其特征在于，包括至少一个控制处理器和用于与所述至少一个控制处理器通信连接的存储器；所述存储器存储有可被所述至少一个控制处理器执行的指令，所述指令被所述至少一个控制处理器执行，以使所述至少一个控制处理器能够执行如权利要求1至6任一项所述的一种镜面畸变检测方法。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于：所述计算机可读存储介质存储有计算机可执行指令，所述计算机可执行指令用于使计算机执行如权利要求1至6任一项所述的一种镜面畸变检测方法。