[发明专利]一种静电测试放电路径的检测方法及系统

说明书

本发明公开了一种静电测试放电路径的检测方法及系统，其中该方法包括步骤：S10、确定静电测试板中静电测试区域；S20、对待测器件进行高压放电；S30、通过红外热成像装置对所述静电测试区域进行拍摄录制；S40、逐帧扫描红外热成像录像，将放电时的红外热成像图像与所述待测器件的平面结构图复合；S50、确定静电在所述待测器件的泻放路径。通过该方法，测试人员能够直观的确定静电的放电路径及其在电子器件中所对应的位置或相应元件，检测精度更高，且具有可重复性，相较于传统的测试方法，本发明能一次测试出所有的放电路径，效率更快，同时，由于无需多次测试来确定在待测点的多条放电路径，减少了待检测器件的消耗，降低了测试成本。

技术领域

本发明涉及产品测试技术领域，尤其涉及一种静电测试放电路径的检测方法及系统。

背景技术

在电子产品的生产工序中，其中有一个重要的测试工序为静电测试。在测试中，电子产品常常出现一些功能异常的情况，例如器件被静电损坏。因此，静电问题一直是困扰电子工程师的一个难题。其难度在于，静电的串入、流走、泻放的路径无法被观察到，对于一些静电击伤的电子产品无法详细去分析和评估潜在风险。若要解决该问题，就需要使用一定的方法抓取并记录静电测试中静电的进入和泻放路径，以针对性的进行防护处理。

而目前面临的问题是，由于不同的电子产品的结构设计、电路设计、产品材质及元器件分布均不相同，因此静电的流走路径也不尽相同，现有技术中只能通过被损坏的电子器件位置的方法来推测大致的放电路径。而该方法的缺点较多：一是速度慢，需要大量的静电实验，耗时长；二是效率低，静电放电有时并不只有一条路径，在出现多条路径放电情况下，工作量会成倍增加；三是费用大，静电放电测试属于破坏性测试，每次测试都会导致产品的报废，从而导致测试成本高。

因此，如何准确高效地检测出静电测试中的静电的流走及泻放路径，成为了目前亟需解决的技术问题。

发明内容

本发明公开一种静电测试放电路径的检测方法及系统，旨在解决现有技术中存在的技术问题。

为了解决上述问题，本发明采用下述技术方案：

一方面，本发明提供了一种静电测试放电路径的检测方法，包括以下步骤：

确定静电测试板中静电测试区域；

对待测器件进行高压放电；

通过红外热成像装置对静电测试区域进行拍摄录制；

逐帧扫描红外热成像录像，将放电时的红外热成像图像与待测器件的平面结构图复合；

确定静电在待测器件的泻放路径。

作为优选的实施方案，在确定静电测试板中静电测试区域的步骤前，还包括：

将不同的待测器件的平面结构图存储至计算机的数据库。

作为优选的实施方案，在确定静电测试板中静电测试区域的步骤中，还包括：

将待测器件平置于静电测试板的绝缘衬垫上，在绝缘衬垫和待测器件的两个对角分别绝缘固定电热膜；

或者，在待测器件的至少四角分别绝缘固定电热膜。

作为优选的实施方案，在确定静电测试板中静电测试区域的步骤中，还包括：

开启电热膜，通过电热膜对待测器件进行升温；

调整红外热成像装置的摄像头与待测器件的检测面垂直，开启红外热成像装置，对静电测试区域进行定位，确定待测器件的类型及位置。

作为优选的实施方案，在通过红外热成像装置对静电测试区域进行拍摄录制的步骤中，还包括：

设置红外热成像装置的拍摄帧率不小于240帧；设置红外热成像装置的拍摄分辨率不小于384×288。