[发明专利]金属探测器的测试夹具和金属探测器的测试方法

说明书

本发明提供了一种金属探测器的测试夹具和金属探测器的测试方法，其中，金属探测器的测试夹具，包括：第一夹臂，具有第一夹持部；第二夹臂，第二夹臂的第一端与第一夹臂的第一端铰接连接，第二夹臂具有第二夹持部；第一标尺，设置于第一夹臂的第一端；其中，第一夹臂和第二夹臂具有关闭位置和打开位置，当第一夹臂和第二夹臂处于关闭位置时，第一夹持部和第二夹持部对接，第一夹持部和第二夹持部的之间形成球形容纳空间。本申请的技术方案有效地解决了相关技术中的金属探测器的测试的准确性较差的问题。

技术领域

本发明涉及金属探测器技术领域，具体而言，涉及一种金属探测器的测试夹具和金属探测器的测试方法。

背景技术

重力下落式金属探测器专门为检测非加压应用中的自由坠落粉末与颗粒产品而设计，近年来已被广泛应用于制药、食品等行业。金属探测器作为金属异物拦截的重要手段，普遍为生产过程关键控制点，该设备的运行状态必须进行有效验证后，方可正常使用。

在相关技术中，重力下落式金属探测器普遍采用投料管道侧壁单侧开孔进行投球测试的设计方式，即使用外形大小统一的含金属标准化测试样球从侧壁开孔处投入金探腔室内，设备可自动识别并立即剔除。但是这样的侧视方式由于测试球的位置无法准确的限定，进而会导致测试的准确性较差。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种金属探测器的测试夹具和金属探测器的测试方法，以解决相关技术中的金属探测器的测试的准确性较差的问题。

为了实现上述目的，根据本发明的一个方面，提供了一种金属探测器的测试夹具，包括：第一夹臂，具有第一夹持部；第二夹臂，第二夹臂的第一端与第一夹臂的第一端铰接连接，第二夹臂具有第二夹持部；第一标尺，设置于第一夹臂的第一端；其中，第一夹臂和第二夹臂具有关闭位置和打开位置，当第一夹臂和第二夹臂处于关闭位置时，第一夹持部和第二夹持部对接，第一夹持部和第二夹持部的之间形成球形容纳空间。

进一步地，第一夹持部位于第一夹臂的第一端并与第一标尺连接，第一夹臂的第二端为第一握持端，第二夹持部位于第二夹臂的第一端，第二夹臂的第二端为第二握持端。

进一步地，金属探测器的测试夹具还包括设置于第一夹持部远离第一夹臂的一端的第一凸部和设置于第二夹持部远离第二夹臂的第一端的第二凸部，第一凸部上设置有第一连接孔，第二凸部上设置有第二连接孔，第一凸部和第二凸部叠置设置，金属探测器的测试夹具还包括铰接轴，铰接轴插入至第一连接孔和第二连接孔内。

进一步地，第一标尺包括第一尺部和第一套部，第一套部可移动地套设于第一尺部上，第一尺部和第一套部之间设置有第一锁定件。

进一步地，第一夹持部包括第一半球壳，第二夹持部包括第二半球壳。

进一步地，第一夹臂包括第二尺部、第二套部以及第二锁定件，第一夹持部和第二尺部连接，第二套部可移动地套设于第二尺部，第二锁定件连接在第二尺部和第二套部之间。

进一步地，第二夹臂包括第三尺部、第三套部以及第三锁定件，第三尺部和第二夹持部连接，第三套部可移动地套设于第三尺部，第三锁定件连接在第三尺部和第三套部之间。

进一步地，第二套部远离第一夹持部的一端设置有第一指环，第三套部远离第二夹持部的一端设置有第二指环。