[发明专利]光轴主动对准装置在审

专利信息
申请号: 202210329441.0 申请日: 2022-03-30
公开(公告)号: CN114815283A 公开(公告)日: 2022-07-29
发明(设计)人: 郑洪宝;翁水才;韩笑 申请(专利权)人: 杭州长川科技股份有限公司
主分类号: G02B27/62 分类号: G02B27/62;G02B27/36
代理公司: 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 代理人: 王雪莎
地址: 310000 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 光轴 主动 对准 装置
【权利要求书】:

1.一种光轴主动对准装置,其特征在于,用于对图像传感器和镜头进行光轴对准组装;

所述光轴主动对准装置包括基础平台、旋转平台模块、对位组装模组、点胶模块、点亮检测模块、第一取料模块和第二取料模块;

所述基础平台具有呈中心对称分布的四个组装工位,沿所述基础平台的周向,四个所述组装工位分别为第一组装工位、第二组装工位、第三组装工位和第四组装工位;

所述第一取料模块、所述点胶模块、所述对位组装模组和所述点亮检测模块顺次设置于所述第一组装工位、所述第二组装工位、所述第三组装工位和所述第四组装工位的外侧;

所述旋转平台模块可转动地设置在所述基础平台上,所述旋转平台模块上设置有四个组装载台,在所述旋转平台模块的初始状态下,四个所述组装载台一一对应地设置于四个所述组装工位的上方,所述旋转平台模块被配置为每次转动预定角度,且每次转动所述预定角度后,所述四个组装载台均后移一个组装工位。

2.根据权利要求1所述的光轴主动对准装置,其特征在于,所述第一取料模块包括第一位置调节组件和第一拾取构件,所述第一拾取构件通过所述第一位置调节组件设置于所述基础平台;

所述光轴主动对准装置还包括用于存储图像传感器的第一料仓模块,所述第一料仓模块设置于所述基础平台,所述第一位置调节组件位于所述第一料仓模块与第一组装工位之间;

所述第一位置调节组件能够带动所述第一拾取构件从所述第一料仓模块拾取所述图像传感器并向所述第一组装工位上方的所述组装载台运送所述图像传感器。

3.根据权利要求2所述的光轴主动对准装置,其特征在于,所述第一取料模块还包括第一位置检测构件和第二位置检测构件;

所述第一位置检测构件设置于所述基础平台,位于所述第一位置调节组件的侧部,所述第一位置检测构件朝向所述第一组装工位上方的所述组装载台进行拍摄及位置检测;

所述第一位置检测构件与所述第一位置调节组件相电连接;

所述第二位置检测构件设置于所述第一位置调节组件,位于所述第一拾取构件的侧部,所述第二位置检测构件朝向所述第一拾取构件进行拍摄及位置检测;

所述第二位置检测构件与所述第一拾取构件相电连接。

4.根据权利要求1所述的光轴主动对准装置,其特征在于,所述点胶模块包括平移驱动构件、点胶调节组件、点胶构件以及点胶检测组件;

所述平移驱动构件设置于所述基础平台,并位于所述第二组装工位的侧部,所述点胶构件和所述点胶检测组件通过所述点胶调节组件连接于所述平移驱动构件,所述平移驱动构件能够带动所述点胶构件、所述点胶检测组件和所述点胶调节组件靠近或远离所述第二组装工位。

5.根据权利要求4所述的光轴主动对准装置,其特征在于,所述点胶调节组件包括三轴平移构件、点胶机架、点胶固定平台以及平面度校正构件;

所述点胶机架和所述三轴平移构件分别设置于所述平移驱动构件,所述点胶固定平台的一端枢接于所述三轴平移构件,所述平面度校正构件可调节地连接于所述点胶机架,所述点胶固定平台的另一端搭接于所述平面度校正构件;

所述点胶检测组件包括高度测量构件和第三位置检测构件,所述高度测量构件设置于所述点胶固定平台,所述第三位置检测构件设置于所述点胶机架。

6.根据权利要求1所述的光轴主动对准装置,其特征在于,所述第二取料模块包括第二位置调节组件、第二拾取构件和第四位置检测构件,所述第二拾取构件通过所述第二位置调节组件连接于所述基础平台上;

所述光轴主动对准装置还包括用于存储镜头的第二料仓模块,所述第二料仓模块设置于所述基础平台,所述第二位置调节组件位于所述第二料仓模块与所述对位组装模块之间;

所述第二位置调节组件能够带动所述第二拾取构件从所述第二料仓拾取所述镜头并向所述对位组装模块运送所述镜头;

所述第四位置检测构件设置于所述第二位置调节组件,并位于所述第二拾取构件的侧部,所述第四位置检测构件朝向所述第二拾取构件进行拍摄和位置检测,并与所述第二位置调节组件相电连接。

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