[发明专利]带置复位结构的D触发器及其单粒子轰击位置定位方法在审
申请号: | 202210326338.0 | 申请日: | 2022-03-30 |
公开(公告)号: | CN114826216A | 公开(公告)日: | 2022-07-29 |
发明(设计)人: | 梁斌;陈建军;池雅庆;袁珩洲;罗登 | 申请(专利权)人: | 中国人民解放军国防科技大学 |
主分类号: | H03K3/356 | 分类号: | H03K3/356;H03K19/003;G01R31/317 |
代理公司: | 湖南兆弘专利事务所(普通合伙) 43008 | 代理人: | 谭武艺 |
地址: | 410073 湖南*** | 国省代码: | 湖南;43 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 复位 结构 触发器 及其 粒子 轰击 位置 定位 方法 | ||
1.一种带置复位结构的D触发器,其特征在于,包括置复位电路网络单元和结构完全一致的至少两条D触发器链,所述D触发器链由多级D触发器单元依次级联构成,各条D触发器链中的每一级D触发器单元一一对应、且各条D触发器链中的任意一级D触发器单元共用置复位电路网络单元提供的D触发器信号RD1和RD2。
2.根据权利要求1所述的带置复位结构的D触发器,其特征在于,所述置复位电路网络单元包括一个输入端以输入信号RD和用于输出D触发器信号RD1和RD2的两个输出端。
3.根据权利要求2所述的带置复位结构的D触发器,其特征在于,所述置复位电路网络单元包括8个PMOS管P111~P118和12个NMOS管N111~N114、N116、N118~N120,PMOS管P111的栅极连接输入信号RD,源极连接电源VDD,漏极连接PMOS管P112的源极;PMOS管P114的栅极连接输入信号RD,源极连接电源VDD,漏极连接NMOS管N114的漏极;NMOS管N114的栅极连接输入信号RD,源极连接地VSS;PMOS管P115的栅极连接PMOS管P114和NMOS管N114的漏极,源极连接电源VDD,漏极连接NMOS管N116的漏极;NMOS管N116的栅极连接PMOS管P114和NMOS管N114的漏极,源极连接地VSS;PMOS管P112的栅极连接PMOS管P115和NMOS管N116的漏极,源极连接PMOS管P111的漏极,漏极连接NMOS管N111的源极;NMOS管N111的栅极连接PMOS管P115和NMOS管N116的漏极,源极连接NMOS管N112的漏极;NMOS管N112的栅极连接输入信号RD,源极连接地VSS;PMOS管P116的栅极连接输入信号RD,源极连接电源VDD,漏极连接PMOS管P117的源极;PMOS管P117的栅极连接PMOS管P115和NMOS管N116的漏极,源极连接PMOS管P116的漏极,漏极连接NMOS管N118的漏极;NMOS管N118的栅极连接PMOS管P115和NMOS管N116的漏极,源极连接NMOS管N119的漏极,漏极连接PMOS管P117的漏极;NMOS管N119的栅极连接输入信号RD,源极连接地VSS,漏极连接NMOS管N118的源极;PMOS管P113的栅极连接PMOS管P112和NMOS管N111的漏极,源极连接电源VDD,漏极连接NMOS管N113的漏极;NMOS管N113的栅极连接PMOS管P112和NMOS管N111的漏极,源极连接VSS,漏极连接PMOS管P113的漏极;PMOS管P113和NMOS管N113的漏极连接输出D触发器信号RD1;PMOS管P118的栅极连接PMOS管P117和NMOS管N118的漏极,源极连接电源VDD,漏极连接NMOS管N120的漏极;NMOS管N120的栅极连接PMOS管P117和NMOS管N118的漏极,源极连接地VSS,漏极连接PMOS管P118的漏极;PMOS管P118和NMOS管N120的漏极连接输出D触发器信号RD2。
4.根据权利要求3所述的带置复位结构的D触发器,其特征在于,所述置复位电路网络单元还包括NMOS管N115,NMOS管N115的栅极连接PMOS管P114和NMOS管N114的漏极,源极和漏极连接地VSS,NMOS管N115用于作为电容使用。
5.根据权利要求4所述的带置复位结构的D触发器,其特征在于,所述置复位电路网络单元还包括NMOS管N117,NMOS管N117的栅极连接PMOS管P115和NMOS管N116的漏极,源极和漏极连接VSS,NMOS管N117用于作为电容使用。
6.根据权利要求1所述的带置复位结构的D触发器,其特征在于,所述D触发器单元均为采用主从交叉DICE结构的主从交叉DICE触发器。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国人民解放军国防科技大学,未经中国人民解放军国防科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202210326338.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。