[发明专利]基于深度学习的3D打印点阵结构CT图像缺陷检测方法在审

专利信息
申请号: 202210325459.3 申请日: 2022-03-29
公开(公告)号: CN114638819A 公开(公告)日: 2022-06-17
发明(设计)人: 郭保苏;张磊;吴凤和;温银堂;张玉燕;张芝威 申请(专利权)人: 燕山大学
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06N3/08;G06N3/04;G06V10/82
代理公司: 北京孚睿湾知识产权代理事务所(普通合伙) 11474 代理人: 韩燕
地址: 066004 河北*** 国省代码: 河北;13
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摘要:
搜索关键词: 基于 深度 学习 打印 点阵 结构 ct 图像 缺陷 检测 方法
【权利要求书】:

1.一种基于深度学习的3D打印点阵结构CT图像缺陷检测方法,其特征在于,其包括以下步骤:

步骤1:通过工业CT获取缺陷图像数据;

使用工业CT扫描3D打印点阵结构件,获取内部缺陷图像数据,并对缺陷图像数据进行保存;

步骤2:高斯滤波处理缺陷图像数据;

对所有图像数据都要进行高斯滤波,通过镜像、旋转、平移、扭曲、对比度调整和重复像素值操作,对缺陷图像数据进行扩展和增强;高斯滤波的表达方式如下所示:

式中:x表示输入图像横坐标方向像素点的值;y表示输入图像纵坐标方向像素点的值;G(x,y)表示高斯函数;σ代表高斯滤波函数的方差;

步骤3:构建基于深度学习网络的缺陷检测模型;

带有缺陷信息的图像数据被划分为训练集和验证集,图像数据传入基于深度学习的3D打印点阵结构缺陷检测模型进行训练,图像数据依次经过Resizer Images模块,融入双注意力机制的YOLOv4缺陷检测模块,进行缺陷检测;

步骤31:构建Resizer Model模块;

Resizer Model模块包括卷积层和BatchNorm层,所述卷积层函数的获取方式如下所示:

fx=ρ(wlxl+bl)

式中:fx表示卷积层函数;xl表示输入的图像数据矩阵;wl和bl分别表示该层的权重和偏置;ρ表示激活函数;

所述BatchNorm层函数的获取方式如下所示:

式中:yi表示BatchNorm层函数;γ和β分别表示第一训练参数和第二训练参数;表示第i个输入的图像数据的矩阵标准化;i表示输入图像数据的编号;

步骤32:构建基于双注意力机制的YOLOv4缺陷检测模块;

所述双注意力机制由SE注意力机制和CBAM注意力机制共同组成;

将所述SE注意力机制需融入到特征提取网络,给特征提取网络通道分配不同的权重;将所述CBAM注意力机制融入到特征提取网络,能够将图像不同位置分配不同权重,更好的突出缺陷位置;

步骤33:搭建深度学习神经网络的损失函数;

融合Resizer Model模块、双注意力模块的YOLOv4深度学习神经网络的损失函数获取方法如下所示:

式中:LCIOU表示YOLOv4深度学习神经网络的损失函数;IOU表示真实框和检测框的交并比;A表示检测框;B表示真是框;d表示欧氏距离;Azx和Bzx代表检测框和真实框的中心坐标;c为A和B最小包围框的对角线长度;ν和a分别代表对长宽比的第一修正系数和第二修正系数;

步骤4:判断缺陷检测检测模型训练结果是否符合要求;

当验证集在检测网络上的mAP值为95%以上代表模型训练完毕;保存模型参数,所述模型参数包括:迭代次数、优化器型号和所训练权重;所述mAP值获取方法如下所示:

式中:mAP表示平均精度均值;k表示第k个计算区域;N表示计算区域数量;p(k)代表精确率;r(k)代表召回率;

步骤5:将训练好的模型参数用于缺陷检测模型;

将训练好的模型参数嵌入缺陷检测模型,应用到3D打印点阵结构件的内部缺陷检测。

2.根据权利要求1所述的基于深度学习的3D打印点阵结构CT图像缺陷检测方法,其特征在于,所述步骤1中的通过工业CT对3D打印点阵结构件进行扫描,根据结构件的长度、宽度和高度以及缺陷的尺寸确定切片图像数量,组成图像数据。

3.根据权利要求1所述的基于深度学习的3D打印点阵结构CT图像缺陷检测方法,其特征在于,所述步骤31中的Resizer Model模块能够让网络自动学习切片图像数据信息的大小,训练出与检测网络相匹配的图像尺寸,并自动调整输入到检测网络的尺寸信息。

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