[发明专利]设备状态监测方法、装置、非易失性存储介质及辐照仪在审

专利信息
申请号: 202210320792.5 申请日: 2022-03-29
公开(公告)号: CN114662947A 公开(公告)日: 2022-06-24
发明(设计)人: 高伟;高超;周冰钰;方振宇;张锐 申请(专利权)人: 阳光智维科技有限公司
主分类号: G06Q10/06 分类号: G06Q10/06;G06Q10/04;G01D21/02;G01J1/02;G01J1/42
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 张文华
地址: 230088 安徽省合肥市高新区天智路*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 设备 状态 监测 方法 装置 非易失性 存储 介质 辐照
【权利要求书】:

1.一种设备状态监测方法,其特征在于,包括:

获取第一目标设备在目标时间段内采集的环境数据;

以预设数据检测规则对所述环境数据进行检测,并将检测结果作为第一评判指标;

确定所述环境数据和目标工作参数之间的相关系数,并将所述相关系数作为第二评判指标,其中,所述目标工作参数为第二目标设备在所述目标时间段内的工作参数;

依据所述环境数据,计算第一晴空系数序列,并与预测得到的第二晴空系数序列比较,得到第三评判指标;

依据所述第一评判指标,所述第二评判指标和所述第三评判指标共同确定所述第一目标设备的工作状态。

2.根据权利要求1所述的设备状态监测方法,其特征在于,依据所述第一评判指标,所述第二评判指标和所述第三评判指标确定所述第一目标设备的工作状态包括:

在所述第一评判指标,所述第二评判指标和所述第三评判指标中的任意一个评判指标指示所述第一目标设备异常时,确定所述第一目标设备在所述目标时间段内的工作状态为异常工作状态。

3.根据权利要求2所述的设备状态监测方法,其特征在于,在所述第一评判指标,所述第二评判指标和所述第三评判指标中的任意一个评判指标指示所述第一目标设备异常时,确定所述第一目标设备在所述目标时间段内的工作状态为异常工作状态包括:

在所述检测结果为所述环境数据不符合所述预设数据监测规则时,确定所述第一评判指标指示所述第一目标设备异常;

在所述相关系数小于预设相关系数时,确定所述第二评判指标指示所述第一目标设备异常;

在所述第一晴空序列和所述第二晴空系列的相似度低于预设相似度时,确定所述第三评判指标指示所述第一目标设备异常。

4.根据权利要求1所述的设备状态监测方法,其特征在于,所述预设数据检测规则包括以下至少之一:数值缺失检测,恒值检测,大数检测,特定时段数值检测,其中,所述数值缺失检测包括检测所述环境数据中是否存在数据缺失,所述恒值检测包括检测所述环境数据是否存在连续多个数据的数值相同,并且所述多个数据的数量不小于预设数量,所述大数检测包括检测所述环境数据中是否存在大于第一预设值的数据,所述特定时段数值检测包括检测在所述目标时间段内的特定时间段内,采集到的所述环境数据是否为第二预设值。

5.根据权利要求1所述的设备状态监测方法,其特征在于,所述环境数据包括辐照数据,所述目标工作参数包括有功功率,确定所述环境数据和目标工作参数之间的相关系数,并将所述相关系数作为第二评判指标包括:

计算所述环境数据和所述目标工作参数之间的协方差;

计算所述环境数据的第一标准差,以及所述目标工作参数的第二标准差;

依据所述协方差,所述第一标准差和所述第二标准差确定所述相关系数。

6.根据权利要求1所述的设备状态监测方法,其特征在于,依据所述环境数据,计算第一晴空系数序列,并与预测得到的第二晴空系数序列比较,得到第三评判指标包括:

确定所述第一晴空系数序列中的第一晴空系数对应的所述第二晴空系数序列中的第二晴空系数,其中,所述第一晴空系数和所述第二晴空系数对应同一时间点;

比较所述第一晴空系数和所述第二晴空系数的偏差比例,并在所述偏差比例大于预设偏差比例的情况下,确定所述第一晴空系数为异常晴空系数;

确定所述第一晴空系数序列中的所述异常晴空系数的比例,并将所述比例作为所述第三评判指标。

7.根据权利要求1所述的设备状态监测方法,其特征在于,依据所述环境数据,计算第一晴空系数序列,并与预测得到的第二晴空系数序列比较,得到第三评判指标之前,所述设备状态监测方法还包括:

建立晴空系数预测模型;

获取所述晴空系数预测模型输出的所述目标时间段内的所述第二晴空系数序列。

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