[发明专利]一种样品台及测试方法

说明书

本发明涉及晶体检测领域，公开一种样品台及采用样品台进行晶体均一性测试的测试方法，样品台包括：直线滑动装置和旋转装置，直线滑动装置包括能够沿第一直线方向滑动的滑动件，旋转装置设置于滑动件上，旋转装置能够绕第二直线转动，且第一直线与第二直线二者相互垂直。与现有设置有X向滑台和Y向滑台的样品台相比，本发明提供的样品台及测试方法待测晶体位置变换过程中移动更小，本发明提供的样品台及测试方法能够在小移动的情况下完成晶体均一性测试。

技术领域

本发明涉及晶体检测领域，特别是涉及一种样品台及测试方法。

背景技术

根据布拉格方程，对于一束X射线，当光程差等于波长的整数倍时，晶面的散射线将加强，此时满足2dsinθ＝nλ，其中，d为晶面间距，θ为入射光线、反射光线与反射晶面之间的夹角，λ为波长，n为反射级数。因此，用已知波长的光照射位置结构的晶体，通过衍射角的测量，求得晶体中各晶面的间距d，进而可揭示晶体的结构。根据这一原理，X射线衍射仪被开发并使用，目前已被广泛应用于各领域、各种材料的结晶结构表征中。

目前为了方便测试X射线衍射仪内部均设置有样品台，且现有的样品台一般包括相互垂直的X向滑台和Y向滑台，测试过程中通过X向滑台和Y向滑台调整待测晶体的位置，进而实现对待测晶体不同位置的测试。但由于X射线衍射仪内部空间狭小，现有的样品台仅适用于小尺寸晶体测试，当对大尺寸晶体进行测试时，由于位置变换过程中，晶体的移动较大，导致晶体很容易发生碰撞，进行导致晶体很容易损坏。

因此，如何在小移动的情况下完成晶体均一性测试成为本领域技术人员目前所亟待解决的问题。

发明内容

为解决以上技术问题，本发明提供一种能够在小移动的情况下完成晶体均一性测试的样品台及测试方法。

为实现上述目的，本发明提供了如下方案：

本发明提供一种样品台，包括：直线滑动装置和旋转装置，所述直线滑动装置包括能够沿第一直线方向滑动的滑动件，所述旋转装置设置于所述滑动件上，所述旋转装置能够绕第二直线转动，且所述第一直线与所述第二直线二者相互垂直。

优选地，所述直线滑动装置还包括第一电机、丝杠和两个导轨，所述丝杠和各所述导轨均沿所述第一直线的长度方向设置，两个所述导轨对称设置于所述丝杠的两侧，所述第一电机与所述丝杠传动连接、以驱动所述丝杠转动，所述滑动件套设于所述丝杠上、并与所述丝杠螺纹连接，所述滑动件与各所述导轨均滑动连接。

优选地，所述滑动件为滑座。

优选地，所述旋转装置包括外壳、蜗杆、蜗轮、第二电机以及支撑件，所述蜗杆和所述蜗轮均可转动地设置于所述外壳内部，且所述蜗轮的轴线与所述第二直线相重合，所述第二电机与所述蜗杆传动连接、以驱动所述蜗杆转动，所述蜗杆与所述蜗轮相啮合，所述支撑件设置于所述蜗轮上、且二者轴线重合。

优选地，所述支撑件为支撑台。

优选地，样品台还包括用于驱动所述直线滑动装置沿第三直线方向升降的直线升降装置，所述第三直线与所述第二直线相平行。

优选地，样品台还包括用于驱动所述直线滑动装置绕第四直线摆动的角位移台，所述第四直线与所述第二直线相垂直。

本发明还提供一种测试方法，使用所述的样品台进行样品均一性测试，包括以下步骤：

步骤一，将待测晶体设置于所述旋转装置上，且所述待测晶体的轴线与所述第二直线相重合；

步骤二，沿所述第一直线方向移动所述滑动件，之后绕所述第二直线转动所述旋转装置；或者绕所述第二直线转动所述旋转装置，之后沿所述第一直线方向移动所述滑动件。

本发明相对于现有技术取得了以下技术效果：