[发明专利]一种GIS绝缘缺陷紫外光谱检测方法在审

专利信息
申请号: 202210292843.8 申请日: 2022-03-24
公开(公告)号: CN114720824A 公开(公告)日: 2022-07-08
发明(设计)人: 罗林;张一;齐雨心;王乔;陈帅 申请(专利权)人: 辽宁石油化工大学
主分类号: G01R31/12 分类号: G01R31/12;G01N21/33
代理公司: 沈阳一诺君科知识产权代理事务所(普通合伙) 21266 代理人: 刘丽娟
地址: 113000 辽*** 国省代码: 辽宁;21
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 gis 绝缘 缺陷 紫外 光谱 检测 方法
【权利要求书】:

1.一种GIS绝缘缺陷紫外光谱检测方法,其特征在于,包括:

通过预设电路获取目标气体的紫外光谱数据;

根据所述紫外光谱数据生成所述目标气体的光谱图;

将所述光谱图转换为极坐标图;

基于所述极坐标图获取所述目标气体的特征信息。

2.根据权利要求1所述的GIS绝缘缺陷紫外光谱检测方法,其特征在于,所述预设电路包括:

A/D转换电路;

其中,所述A/D转换电路包括8通道多路模拟开关、地址锁存器和译码电路和逐次迫近A/D转换器;

基于所述地址锁存与所述译码器确定8路输入信号分时共用的A/D转换器,所述8路输出信号流过所述8路模拟开关后送到所述逐次迫近A/D转换器。

3.根据权利要求2所述的GIS绝缘缺陷紫外光谱检测方法,其特征在于,所述逐次迫近A/D转换器包括:

比较器,三态输出缓冲器,控制逻辑,逐次迫近寄存器,树状开关和256R电阻网。

4.根据权利要求1所述的GIS绝缘缺陷紫外光谱检测方法,其特征在于,所述将所述光谱图转换为极坐标图的步骤,包括:

基于所述光谱图获取所述紫外光谱数据的纵坐标,其中,m为所述紫外光谱数据纵坐标的个数:

s(k)(k=1,2,3,4…m)

基于所述光谱图和所述紫外光谱数据的纵坐标,通过SDP转换的方法将所述光谱图内的数据点转换成极坐标系中的一对对称的点;

根据所述极坐标系中的一对对称的点生成极坐标图。

5.根据权利要求4所述的GIS绝缘缺陷紫外光谱检测方法,其特征在于,所述基于所述光谱图和所述紫外光谱数据的纵坐标,通过SDP转换的方法将所述光谱图内的数据点转换成极坐标系中的一对对称的点的步骤,包括:

将所述光谱图和所述紫外光谱数据的纵坐标代入公式:

将所述光谱图内的数据点转换成极坐标系中的一对对称的点,其中,

是转换后成对的对称点的起始角度,a决定转换后的图形可以得到“花瓣”的数量,为了得到六边形雪花形状的图像,通常选择a=6;sk为原始信号数据第k个点的信号幅值,smin和smax分别为原始信号的最大值和最小值;R(k)为转换后极坐标点的极径长,Z(k),Y(k)分别是转换后对称点的左、右角度;l是取值间隔系数,g为角度放大增益,g和l为主要优化参数。

6.根据权利要求1所述的GIS绝缘缺陷紫外光谱检测方法,其特征在于,还包括:

构建基于总线接口的24位AD精度的数据采集器,用以采集所述目标气体的紫外光谱数据。

7.根据权利要求6所述的GIS绝缘缺陷紫外光谱检测方法,其特征在于,所述构建基于总线接口的24位AD精度的数据采集器的步骤,包括:

PCI总线接口芯片的配置信息通过E2PROM存储并在没备复位时加载,PCI9030的信号线EECS,EESK,EEDI和EEDO是专门用于E2PROM的连接。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于辽宁石油化工大学,未经辽宁石油化工大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202210292843.8/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top