[发明专利]一种生烃窗计算方法、装置及相关设备

权利要求书

1.一种生烃窗计算方法，其特征在于，包括：

对目标垂直剖面中每一样品所在地层在沉积历史过程中的每个时间点的地层古厚度进行恢复，得到每一样品所在地层在每个时间点的上界的古深度及下界的古深度；

基于所述目标垂直剖面中每一样品所在地层在每个时间点的上界的古深度及下界的古深度进行随机搜索，得到每一样品所在地层的若干候选埋藏史曲线，所述候选埋藏史曲线包含沉积间断期的埋藏史；

对每一样品所在地层的每条候选埋藏史曲线进行平均值计算，得到每一样品所在地层的目标埋藏史曲线；

对每一样品所在地层的边界处的镜质体反射率进行计算，得到目标地层深度，并根据所述目标地层深度和各目标埋藏史曲线，确定生烃窗，其中，所述目标地层深度下的地层能够达到生烃条件。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，基于所述目标垂直剖面中每一样品所在地层在每个时间点的上界的古深度及下界的古深度进行随机搜索，得到每一样品所在地层的若干候选埋藏史曲线的过程，包括：

基于所述目标垂直剖面中每一样品所在地层在每个时间点的上界的古深度及下界的古深度，确定所述目标垂直剖面中每一样品所在地层的埋藏史曲线；

利用蒙特卡罗方法进行随机搜索，得到存在剥蚀的地层在沉积间断期的N1条埋藏-剥蚀过程曲线；

采用所述N1条埋藏-剥蚀过程曲线对所述存在剥蚀的地层之下的各地层的埋藏史曲线进行校正，并对校正后的埋藏史曲线进行筛选，得到每一样品所在地层的N1条候选埋藏史曲线；

其中，N1为预设的自然数。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，采用所述N1条埋藏-剥蚀过程曲线对所述存在剥蚀的地层之下的各地层的埋藏史曲线进行校正的过程，包括：

针对所述存在剥蚀的地层之下的其他每一地层：

根据所述其他每一地层与所述存在剥蚀的地层的高度差关系，基于古地温梯度函数，结合所述存在剥蚀的地层的N1条埋藏-剥蚀过程曲线，计算得到所述其他每一地层在沉积间断期的N1条埋藏-剥蚀过程曲线；

针对所述存在剥蚀的地层之下的每一地层：

针对每条埋藏-剥蚀过程曲线，将所述地层的所述埋藏-剥蚀过程曲线在沉积间断期的部分取代所述地层的所述埋藏史曲线在沉积间断期的部分。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，对校正后的埋藏史曲线进行筛选，得到每一样品所在地层的N1条候选埋藏史曲线的过程，包括：

根据古地温梯度函数，分别将每一样品所在地层的N1条埋藏史曲线转换成N1条热史曲线；

根据目标低温年代学方法，计算得到每条热史曲线所对应的模拟年龄；

根据每一样品所在地层的每条热史曲线所对应的模拟年龄，以及所述样品的年龄测试值，计算每一样品所在地层的每条热史曲线的拟合度；

对于每一样品所在地层的每条热史曲线，将拟合度大于预设值的热史曲线确定为每一样品所在地层的候选热史曲线；

将对应于每一条所述候选热史曲线的埋藏史曲线，确定为候选埋藏史曲线。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，根据每一样品所在地层的每条热史曲线所对应的模拟年龄，以及所述样品的年龄测试值，计算每一样品所在地层的每条热史曲线的拟合度的过程，包括：

采用以下方程式计算每一样品所在地层的每条热史曲线的拟合度GOF：

其中，age为每条热史曲线所对应的模拟年龄，为目标垂直剖面上样品的年龄测试值的平均误差，为目标垂直剖面上样品的模拟年龄与年龄测试值的平均差值。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，对每一样品所在地层的每条候选埋藏史曲线进行平均值计算，得到每一样品所在地层的目标埋藏史曲线的过程，包括：

针对每一样品所在地层的每条候选埋藏史曲线：

确定N2个时间采样点，对每一时间采样点上各候选埋藏史的值求平均，得到每一时间采样点上的深度均值；

根据每一时间采样点的时间值和对应于每一时间采样点上的深度均值，确定每一样品所在地层的目标埋藏史曲线；

其中，N2为预设的自然数。