[发明专利]图像处理方法、装置及电子设备

权利要求书

1.一种图像处理方法，其特征在于，包括：

确定第一图像对应的N个纹理图像、以及所述N个纹理图像与三维模型的N个模型面之间的对应关系，所述N为大于1的整数；

根据所述对应关系和偏移系数，在所述N个纹理图像中确定每个模型面对应的映射区域，所述映射区域为所述纹理图像的至少部分区域；

将所述N个纹理图像中的映射区域映射至所述三维模型，得到所述第一图像对应的三维图像。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述至少部分区域为所述纹理图像的中部区域；根据所述对应关系和偏移系数，在所述N个纹理图像中确定每个模型面对应的映射区域，包括：

根据所述对应关系，将所述N个纹理图像组合为L行、K列的区域，得到采样区域，所述L与所述K的乘积为所述N，所述L和所述K为正整数；

根据所述采样区域和所述偏移系数，确定所述模型面对应的映射区域。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，针对于任意一个模型面；根据所述采样区域和所述偏移系数，确定所述模型面对应的映射区域，包括：

确定所述模型面对应的所述纹理图像在所述采样区域中的第一位置；

获取所述模型面的顶点纹理坐标；

根据所述顶点纹理坐标、所述偏移系数和所述第一位置，在所述采样区域中确定顶点采样坐标；

根据所述顶点采样坐标和所述第一位置，确定所述模型面对应的映射区域。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述顶点纹理坐标包括顶点纹理横坐标和顶点纹理纵坐标；根据所述顶点纹理坐标、所述偏移系数和所述第一位置，在所述采样区域中确定顶点采样坐标，包括：

根据所述顶点纹理横坐标、所述第一位置、所述采样区域的列数和所述偏移系数，确定所述顶点采样坐标的横坐标；

根据所述顶点纹理纵坐标、所述第一位置、所述采样区域的列数、所述采样区域的行数和所述偏移系数，确定所述顶点采样坐标的纵坐标；

根据所述顶点采样坐标的横坐标、所述顶点采样坐标的纵坐标，得到所述顶点采样坐标。

5.根据权利要求3或4所述的方法，其特征在于，所述采样区域的行数为2；根据所述顶点采样坐标和所述第一位置，确定所述模型面对应的映射区域，包括：

若所述第一位置位于所述采样区域的第1行，则根据所述顶点采样坐标，确定所述模型面对应的映射区域；

若所述第一位置位于所述采样区域的第2行，则将所述顶点采样坐标进行预设角度的翻转处理，得到目标顶点采样坐标，以及根据所述目标顶点采样坐标，确定所述模型面对应的映射区域。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，根据所述顶点采样坐标，确定所述模型面对应的映射区域，包括：

确定所述顶点采样坐标在所述采样区域中对应的第一区域；

将所述第一区域确定为所述模型面对应的映射区域。

7.根据权利要求5或6所述的方法，其特征在于，根据所述目标顶点采样坐标，确定所述模型面对应的映射区域，包括：

确定所述目标顶点采样坐标在所述采样区域中对应的第二区域；

将所述第二区域确定为所述模型面对应的映射区域。

8.根据权利要求1-5任一项所述的方法，其特征在于，根据所述对应关系和偏移系数，在所述N个纹理图像中确定每个模型面对应的映射区域之前，所述方法还包括：

获取所述N个纹理图像边缘的预设区域尺寸；

根据所述预设区域尺寸，确定所述偏移系数。

9.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，根据所述预设区域尺寸，确定所述偏移系数，包括：

获取第一预设关系，所述第一预设关系中包括至少一个区域尺寸，以及每个区域尺寸对应的系数；

根据所述预设区域尺寸和所述第一预设关系，确定所述偏移系数。