[发明专利]电子元件外观检测设备在审

专利信息
申请号: 202210257327.1 申请日: 2022-03-16
公开(公告)号: CN114833074A 公开(公告)日: 2022-08-02
发明(设计)人: 谢周阳;翁水才;祝占伟;郑洪宝 申请(专利权)人: 杭州长川科技股份有限公司
主分类号: B07C5/00 分类号: B07C5/00;B07C5/02;B07C5/36
代理公司: 杭州华进联浙知识产权代理有限公司 33250 代理人: 高礼强
地址: 310051 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 电子元件 外观 检测 设备
【权利要求书】:

1.一种电子元件外观检测设备,其特征在于,包括:

底座(10);

供料装置(20),安装于所述底座(10)上并承载有待测工件;

搬运装置(30),安装于所述底座(10)上并对所述待测工件进行搬运;

多工位检测装置(101),安装于所述底座(10)上,所述搬运装置(30)能够将所述待测工件移送至所述多工位检测装置(101),以对所述待测工件依次进行多站背面外观检测、多站侧面外观检测及多站正面外观检测;

收料装置(90),安装于所述底座(10)上,所述搬运装置(30)将检测后的所述待测工件移送至所述收料装置(90)内。

2.根据权利要求1所述的电子元件外观检测设备,其特征在于,所述多工位检测装置(101)包括:

多个背检组件(401),在多个所述背检组件(401)中,相邻两个所述背检组件(401)的朝向相反。

3.根据权利要求1所述的电子元件外观检测设备,其特征在于,所述多工位检测装置(101)还包括:

侧检组件(52),所述侧检组件(52)数量设置为N个,N个所述侧检组件(52)被分成第一组和第二组,其中N≥3且N设置为自然数;

其中,第一组中的所述侧检组件(52)数量设置为偶数个,且第一组中的所述侧检组件以两两相对的方式设置;

第二组中的所述侧检组件(52)数量至少为1个,且第二组中的所述侧检组件(52)与第一组中两两相对设置中的一个所述侧检组件(52)依次布设。

4.根据权利要求1所述的电子元件外观检测设备,其特征在于,所述多工位检测装置(101)还包括:

侧检组件(52),所述侧检组件(52)数量设置为N个,N≥2且N设置为偶数,N个所述侧检组件(52)以两两相对的方式设置。

5.根据权利要求3或4所述的电子元件外观检测设备,其特征在于,所述侧检组件(52)包括:

第二调节板单元(521),安装于所述底座(10)上;

斜立柱(522),其一端与所述第二调节板单元(521)连接,且所述斜立柱(522)开设有连接孔(5221);

第一侧检单元(523),部分穿设于所述连接孔(5221)内并与所述斜立柱(522)连接,且在连接孔(5221)内往复运动。

6.根据权利要求3或4所述的电子元件外观检测设备,其特征在于,所述侧检组件(52)包括:

安装座(51),安装于所述底座(10)上;

光源安装单元(561),安装于所述安装座(51)上;

光源调节件(58),与所述光源安装单元(561)连接,并位于所述光源安装单元(561)远离所述底座(10)的一侧,且所述光源调节件(58)开设有调节孔(581);

其中,所述光源调节件(58)能够沿所述调节孔(581)的延伸方向往复运动。

7.根据权利要求1所述的电子元件外观检测设备,其特征在于,所述多工位检测装置(101)还包括:

多个正检组件(701),在多个所述正检组件(701)中,相邻两个所述正检组件(701)中的其中一个所述正检组件(701)相对凸出于另一个所述正检组件(701)设置。

8.根据权利要求1所述的电子元件外观检测设备,其特征在于,所述多工位检测装置(101)包括多个背检组件(401)、多个侧检组件(52)及多个正检组件(701);多个所述侧检组件(52)位于多个所述背检组件(401)的一侧,多个所述正检组件(701)位于所述侧检组件(52)远离所述背检组件(401)的一侧,且多个所述侧检组件(52)与多个所述正检组件(701)呈错位设置;

其中,多个所述背检组件(401)沿第一方向依次设置,多个所述侧检组件(52)与多个所述正检组件(701)均沿第二方向依次设置,且所述第一方向与所述第二方向相互垂直。

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