[发明专利]软件测试评估方法、装置及存储介质在审

专利信息
申请号: 202210252638.9 申请日: 2022-03-10
公开(公告)号: CN114610627A 公开(公告)日: 2022-06-10
发明(设计)人: 刘颖麒;邸立涛;邱兵 申请(专利权)人: 深圳市飞泉云数据服务有限公司
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36
代理公司: 深圳市恒程创新知识产权代理有限公司 44542 代理人: 巩莉
地址: 518000 广东省深圳市南山区粤海街*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 软件 测试 评估 方法 装置 存储 介质
【说明书】:

发明公开了一种软件测试评估方法,该方法包括获取覆盖率测试工具基于源代码文件生成的覆盖率报告,其中,所述覆盖率报告包括所述源代码文件中的被覆盖代码;获取评估模型基于所述被覆盖代码以及所述源代码文件对应的待覆盖代码生成的覆盖率评估报告;根据所述覆盖率评估报告确定评估结果。本发明还公开了一种软件测试评估装置及存储介质,通过设置评估模型,通过评估模型基于所述被覆盖代码以及待覆盖代码生成覆盖率评估报告,根据覆盖率评估报告即可获取准确的软件测试覆盖率评估结果,解决了因没有统一的量化标准导致无法准确评估软件测试覆盖率的问题。

技术领域

本发明涉及计算机软件领域,尤其涉及软件测试评估方法、装置及存储介质。

背景技术

软件测试充分性评估是质量保障工作非常重要的节点。当前一般用需求监测点覆盖比例等黑盒测试测试覆盖率,代码行覆盖、判定覆盖、代码分支覆盖等白盒测试对覆盖率进行评估。然而,黑盒测试中,因测试点本身的充分性就存疑,且无法完成系统实现上的覆盖率评估,这导致该方法下评估测试覆盖率达到100%,仍然会有很多漏测问题,并且同一份用例且不同人的评估结果可能不一致。另外,在白盒测试中,不同模块或者系统测试覆盖率达标的标准不一致,即没有一个统一的量化标准衡量覆盖率是否达标,并且由于没有一个统一的量化标准,难以制定测试准出条件,基于黑盒测试及白盒测试中存在的问题,容易导致软件测试覆盖率评估准确性较低。

上述内容仅用于辅助理解本发明的技术方案,并不代表承认上述内容是现有技术。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种软件测试评估方法、装置及存储介质,旨在解决因没有统一的量化标准导致无法准确评估软件测试覆盖率的问题。

为实现上述目的,本发明提供一种软件测试评估方法,所述软件测试评估方法的步骤包括:

获取覆盖率测试工具基于源代码文件生成的覆盖率报告,其中,所述覆盖率报告包括所述源代码文件中的被覆盖代码;

获取评估模型基于所述被覆盖代码以及所述源代码文件对应的待覆盖代码生成的覆盖率评估报告;

根据所述覆盖率评估报告确定评估结果。

可选地,所述评估模型基于所述被覆盖代码以及所述源代码文件对应的待覆盖代码生成覆盖率评估报告的方式包括:

基于模式匹配算法获取所述源代码文件对应的待覆盖代码;

将所述被覆盖代码与所述待覆盖代码进行匹配,以确定所述被覆盖代码中与所述待覆盖代码匹配的目标被覆盖代码;

根据所述目标被覆盖代码生成所述覆盖率评估报告。

可选地,所述根据所述目标被覆盖代码生成所述覆盖率评估报告的步骤包括:

将所述目标被覆盖代码对应的目标待覆盖代码标注为测试通过;

将除所述目标待测试代码以外的其它待覆盖代码标注为测试不通过;

将标注后的所述待覆盖代码生成所述覆盖率评估报告。

可选地,所述根据所述覆盖率评估报告确定评估结果的步骤包括:

获取标注为测试通过的待覆盖代码占所有待覆盖代码的比例;

在所述比例大于预设比例时,确定所述评估结果为测试充分。

在所述比例小于或等于预设比例时,确定所述评估结果为测试不充分;

可选地,所述基于模式匹配算法获取所述源代码文件对应的待覆盖代码的步骤包括:

获取初始测试代码模式;

利用模式匹配算法将所述初始测试代码模式与所述源代码文件进行匹配,以获取与所述初始测试代码模式匹配的待覆盖代码。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市飞泉云数据服务有限公司,未经深圳市飞泉云数据服务有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202210252638.9/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top