[发明专利]高低温环境电磁兼容测试方法

说明书

本发明公开一种高低温环境电磁兼容测试方法，包括以下步骤：S1：将待测试设备放置于电波暗室的环境模拟装置内；S2：系统控制器控制环境模拟装置将其内部密封腔的温度调节至待测温度；S3：系统控制器控制电磁测试装置开启，电磁测试装置对设备进行EMC测试，并将EMC测试值保存于数据库内；S4：重复S2‑S3，直至待测试设备在所有的待测温度下均进行了EMC测试。本发明采用在电波暗室内设置环境模拟装置的方式进行高低温测试，不破坏原有的电波暗室，不会降低电波暗室的使用寿命和原有的测试可行性。采用本发明的高低温环境电磁兼容综合试验系统对上述设备在高低温环境下进行EMC测试，更全面的对设备的抗干扰性能进行试验。

技术领域

本发明属于电磁试验技术领域，具体涉及一种高低温环境电磁兼容测试方法。

背景技术

一般的电子设备都要分别进行电磁兼容和高低温环境试验，而现有的电磁兼容测试都是在标准规定的温湿度环境下进行试验的，其实很多电器产品并不是在这种标准环境中使用的，例如：光伏风电设备会安装在高寒高原、飞机会在非常恶劣的气候条件下航行、南北极探险设备都是在极寒条件进行运用的等等，同一产品在不同的气候环境下所产生的电磁干扰现象是否会有不同，都是属于电磁兼容领域需要研究的方向。但是，现阶段还未有一种试验系统将气候环境和电磁兼容环境相结合考虑。

发明内容

为了解决上述技术问题，本发明提出了一种高低温环境电磁兼容测试方法。

为了达到上述目的，本发明的技术方案如下：

高低温环境电磁兼容测试方法，包括以下步骤：

S1：将待测试设备放置于电波暗室的环境模拟装置内；

S2：系统控制器控制环境模拟装置将其内部密封腔的温度调节至待测温度；

S3：系统控制器控制电磁测试装置开启，电磁测试装置对设备进行EMC测试，并将EMC测试值保存于数据库内；

S4：重复S2-S3，直至待测试设备在所有的待测温度下均进行了EMC测试。

在上述技术方案的基础上，还可做如下改进：

作为优选的方案，N个待测温度T₁,T₂,T₃…,T_N保存在第一次测试表格中，第一次测试表格保存于数据库内。

作为优选的方案，还包括以下步骤：

S5：按照T₁至T_N的顺序，将得到的N个EMC测试值E₁,E₂,E₃…,E_N依次保存在第一次测试表格中，N个EMC测试值与N个待测温度一一对应。

作为优选的方案，还包括以下步骤：

S6：将每组邻近的k个EMC测试值取平均值，得到N-k+1个平均值V₁,V₂,V₃…,V_N-k+1，寻找最小平均值V_min和最大平均值V_max，并找到对应最小平均值V_min的k个温度值和对应最大平均值V_max的k个温度值。

作为优选的方案，还包括以下步骤：

S7：取对应最小平均值V_min的k个温度值中的最大值和最小值，形成第一测温区间；

取对应最大平均值V_max的k个温度值中的最大值和最小值，形成第二测温区间。

作为优选的方案，还包括以下步骤：