[发明专利]PCB缺陷的检测方法、装置、计算机设备及存储介质

说明书

本申请提供一种PCB缺陷的检测方法、装置、计算机设备及存储介质，涉及图像处理技术领域。本申请通过缺陷检测模型对原始图片进行检测得到图中对应预估缺陷的目标缺陷框的像素特征，并截取出包含目标缺陷框的目标图片，提取目标缺陷框的边缘轮廓并计算该边缘轮廓的实际尺寸，判断该边缘轮廓的实际尺寸是否大于或者等于预设的缺陷标准值，若实际尺寸大于或者等于缺陷标准值则判定原始图片存在PCB缺陷，若实际尺寸小于缺陷标准值则判定原始图片不存在PCB缺陷。本发明能实现对PCB缺陷的准确定位与量化评估，提高了PCB检测的准确性和自动化程度。

技术领域

本申请涉及图像处理技术领域，尤其涉及一种PCB缺陷的检测方法、装置、计算机设备及存储介质。

背景技术

印刷电路板(Printed Circuit Board，简称PCB)生产制造工艺流程由多个段别组成，在复杂且繁琐的制造过程中也容易引入各种各样的产品缺陷，例如游离铜缺陷。这些缺陷对于产品造成的影响程度各不相同，生产厂家在对缺陷进行评估时也会根据缺陷类型、缺陷大小、缺陷占比等信息将缺陷划分为合格和不合格类别，以此在保证成品无重大缺陷的同时提高产线的成品率，因此对印刷电路板上的缺陷进行准确分类以及量化评估显得十分必要。针对PCB行业缺陷的检测，传统方案采用人员目检的方式进行判别，这具有很大的主观性，易造成缺陷过检以及缺陷漏检，无法保证检测质量。

发明内容

为了解决上述技术问题，本申请实施例提供了一种PCB缺陷的检测方法、装置、计算机设备及存储介质。

第一方面，本申请实施例提供了一种PCB缺陷的检测方法，所述方法包括：

通过缺陷检测模型对待检测的原始图片进行检测，得到所述原始图片中对应预估缺陷的目标缺陷框的像素特征；

根据所述目标缺陷框的像素特征从所述原始图片上截取包含所述目标缺陷框的目标图片；

提取所述目标图片中对应所述目标缺陷框的边缘轮廓，并计算所述边缘轮廓的实际尺寸；

判断所述边缘轮廓的实际尺寸是否大于或者等于预设的缺陷标准值；

若所述边缘轮廓的实际尺寸大于或者等于预设的缺陷标准值，则判定所述原始图片存在PCB缺陷；

若所述边缘轮廓的实际尺寸小于预设的缺陷标准值，则判定所述原始图片不存在PCB缺陷。

根据本申请公开的一种具体实施方式，计算所述边缘轮廓的实际尺寸的步骤，包括：

确定所述目标缺陷框的边缘轮廓的最小外接矩形；

根据所述边缘轮廓的最小外接矩形的像素宽和像素高，计算所述边缘轮廓的实际宽和实际高；

将所述实际宽和所述实际高中的最大值作为所述边缘轮廓的实际尺寸。

根据本申请公开的一种具体实施方式，根据所述边缘轮廓的最小外接矩形的像素高和像素宽，计算所述边缘轮廓的实际高和实际宽的步骤，包括：

统计所述原始图片对应的图片像素量以及所述原始图片对应的实际尺寸；

根据所述原始图片对应的图片像素量以及所述原始图片对应的实际尺寸计算像素单位与实际尺寸的比例关系；

将所述像素宽与所述比例关系的乘积作为所述边缘轮廓的实际宽，以及，将所述像素高与所述比例关系的乘积作为所述边缘轮廓的实际高。

根据本申请公开的一种具体实施方式，所述目标缺陷框的像素特征包括所述目标缺陷框的第一顶角的坐标数据以及第二顶角的坐标数据，以及所述第一顶角和所述第二顶角围合成的矩形范围内的全部像素点的像素特征，其中，所述第一顶角和所述第二顶角为矩形的目标缺陷框的两个互不相邻的顶角。