[发明专利]一种钢中奥氏体含量测量方法

说明书

本发明公开了一种钢中奥氏体含量测量方法，对于具有择优取向的钢试样采用Rietveld方法，并利用TOPAS精修软件对X射线衍射图谱进行结构精修，目的在于在计算钢中奥氏体含量时，可以提高试验结果的准确性。Rietveld精修方法具有以下几个优点：无需标样校正、精度高、速度快、没有因物相增多导致谱峰重叠而造成的困难，以及对择优取向和线宽化等因素引起的系统误差可以进行修正等优点。

技术领域

本发明属于X射线衍射试验领域，尤其是涉及一种钢中奥氏体含量的测量方法。

背景技术

钢铁材料在淬火后，往往存在一定量的残余奥氏体，而奥氏体含量的多少对材料的力学性能和使用寿命有重要影响。因此为了提高钢铁材料的力学性能和使用寿命，必须采取合理的热处理工艺来控制材料中奥氏体含量，而如何才能比较精确地测量出钢材料中奥氏体的含量是测试工作者的重要课题。

发明内容

本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本发明的一个目的在于提供一种钢中奥氏体含量测量方法。

本发明的技术方案如下：一种钢中奥氏体含量测量方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1：将待测钢试样用金相砂纸进行逐级打磨，然后抛光至表面平整光洁；

S2：利用X射线衍射仪获得经过步骤S1打磨后的钢试样的X射线衍射图谱以及X射线衍射数据；

S3：利用X射线分析软件对经过步骤S2获得的X射线衍射图谱进行物相定性分析，确定钢试样中是否存在马氏体、奥氏体和除马氏体和奥氏体以外的第三相，如不存在第三相，则进入下一步骤；

S41：根据步骤S3的结果，利用Findit2008软件导出输出库中对应的马氏体和奥氏体的cif数据文件，并将所述cif数据文件作为拟合时的参考数据；

S51：打开TOPAS软件，点击TOPAS软件中的“Load scan files”图标，导入衍射数据原始文件*.raw，软件下方出现X射线衍射图谱和待拟合图谱；

S61：将所需要的cif数据文件导入到TOPAS软件中；

S71：选中原始文件，先选择光管衍射射线类型“Emission Profile”：*.lam；

S81：选择“Background”，对X射线衍射图谱进行背底修正，选中“Chebychev”多项式为“refine”，然后选择“order”级数，然后选择“1/X Bkg”设定为“refine”；

S91：选中“Instrument”，填写“Primary radius”和“secondary radius”；选择探测器类型“point detector”，进而选择狭缝规格；

S101：选中“Corrections”，分别对“Peak shift”中的“Zero error”和“Sampledisplacement”选中；对“Intensity Corrections”中的“LP factor”“Value”设定为“0”，“Code”设为“Fix”；对“Sample Convolutions”中的“Absorption”设为“refine”；

S111：选中“Miscellaneous”，对“Conv.Steps”“Value”设定为“1”；

S121：点击TOPAS软件中的“Austenite structure”“martenstite structure”对奥氏体和马氏体晶胞参数设为“refine”；

S131：对奥氏体和马氏体结构中原子占位“Code”设为“Fix”

S141：点击TOPAS软件中的“Run”图标，对X射线衍射图谱进行精修，TOPAS软件自动进行精修，精修结束后，软件界面将显示精修误差；