[发明专利]一种多核CPU的memory测试方法

权利要求书

1.一种多核CPU的memory测试方法，其特征在于，基于多核CPU及插入其中的MBIST电路，所述多核CPU包括若干个内核，所述MBIST电路包括测试向量产生电路、状态机FSM和比较器；

该memory测试方法包括：

多核CPU在MBIST测试状态下，当状态机FSM接收到开始指令后同时选通每个内核中第一类memory，

状态机FSM控制测试向量产生电路产生针对第一类memory的测试向量，连同对应该测试向量的Address和Control信号同步送到第一类memory，再同时读取写入第一类memory的测试向量，并将读取的结果合并后送到比较器中；比较器将其和测试向量产生电路产生的期望值进行对比；

如果对比结果不同，比较器输出低电平表示测试失败；如果对比结果相同，比较器输出高电平测试继续。

2.如权利要求1所述的多核CPU的memory测试方法，其特征在于，在所述状态机FSM的控制下，所述测试向量产生电路不断产生测试向量对第一类memory进行激励，再读取测试值和期望值进行对比，直到遍历完该第一类memory的所有地址；第一类memory测试结束后状态机FSM会断开第一类memory与测试向量产生电路的连接，然后同时选通每个内核中的第二类memory继续进行上述测试，直到将所有memory都测试完。

3.如权利要求2所述的多核CPU的memory测试方法，其特征在于，所述每个内核中memory种类相同，且每种memory的数量也相同。

4.如权利要求1所述的多核CPU的memory测试方法，其特征在于，所述测试向量产生电路产生测试向量的同时，产生一个期望值送至所述比较器。