[发明专利]电压微调电路、存储器装置和该存储器装置的测试方法

说明书

公开了一种电压微调电路、存储器装置和存储器装置的测试方法。该电压微调电路包括：第一电阻电路，其具有由上升码和下降码确定的第一电阻值；第二电阻电路，其具有由上升码和下降码确定的第二电阻值；以及比较器，其被配置为通过将参考电压微调节点的电压电平与反馈节点的电压电平进行比较来输出电压检测信号，其中，当参考电压微调节点的电压电平高于反馈节点的电压电平时，电压检测信号调整上升码和下降码，以增大第一电阻值并且减小第二电阻值，并且当参考电压微调节点的电压电平低于或等于反馈节点的电压电平时，电压检测信号调整上升码和下降码，以减小第一电阻值并且增大第二电阻值。

相关申请的交叉引用

本申请要求于2021年3月5日在韩国知识产权局提交的韩国专利申请No.10-2021-0029641的优先权，该申请的公开以引用方式全文并入本文中。

技术领域

本发明构思涉及一种半导体装置，并且更具体地，涉及一种能够增大测试可靠性的电压微调电路、包括电压微调电路的存储器装置和存储器装置的测试方法。

背景技术

包括存储器的半导体装置可以包括由各种内部电压驱动的多个电路。半导体装置可包括用于生成各种内部电压的电压生成电路。由电压生成电路生成的内部电压可能无法精确设置为目标电压电平。换句话说，目标电压电平和由电压生成电路生成的实际内部电压之间可能存在偏差。因此，可以采用调整内部电压的操作，换句话说，可以采用微调操作。当微调内部电压时，测试装置可提供微调码，以通过半导体装置的焊盘或引脚读取内部电压，并调整内部电压电平。

当半导体装置处于晶圆状态时，测试装置可以对每个内部电压执行微调，以便根据每个半导体装置中的处理变化将内部电压设置为目标电压电平。当半导体装置处于晶圆状态时，可以提供不同的微调码，并且对应于不同微调码的反熔丝可能断裂。此后，测试装置可对内部电压执行微调，以评估和加速封装件状态下半导体装置的目标电压电平的范围。在替代方案中，可向处于封装件状态的每个半导体装置提供相同的微调码以提高测试生产率。然而，这可能导致半导体装置的内部电压的分布广泛扩散，从而降低测试的可靠性。

发明内容

本发明构思提供了被配置为在测试期间生成窄内部电压分布的电压微调电路、包括该电压微调电路的存储器装置和该存储器装置的测试方法。

根据本发明构思的实施例，提供了一种电压微调电路，该电压微调电路被配置为将参考电压微调至第一电压，电压微调电路包括：第一电阻电路，其连接在参考电压线与参考电压微调节点之间，第一电阻电路具有由上升码和下降码确定的第一电阻值；第二电阻电路，其连接在参考电压微调节点与地电压线之间，第二电阻电路具有由上升码和下降码确定的第二电阻值；以及比较器，其被配置为通过将参考电压微调节点的电压电平与连接至第一电压的反馈节点的电压电平进行比较来输出电压检测信号，其中，当参考电压微调节点的电压电平高于反馈节点的电压电平时，电压检测信号调整上升码和下降码，以增大第一电阻值并且减小第二电阻值，并且当参考电压微调节点的电压电平低于或等于反馈节点的电压电平时，电压检测信号调整上升码和下降码，以减小第一电阻值并且增大第二电阻值。

根据本发明构思的实施例，提供了一种存储器装置，其被配置为执行电压微调操作，存储器装置包括：电压生成电路，其被配置为生成参考电压和第一电压；电压微调电路，其被配置为将参考电压微调至第一电压，并且通过将由第一电阻电路的第一电阻值和第二电阻电路的第二电阻值确定的参考电压微调节点的电压电平与连接至第一电压的反馈节点的电压电平进行比较来输出电压检测信号；以及非易失性储存器，其存储上升码和下降码，其中，电压微调电路在存储器装置的晶圆测试期间执行第一电压微调，并且在存储器装置的封装件测试期间执行第二电压微调，其中，第一电压微调响应于电压检测信号相对于设在目标电压电平处的第一电压调整上升码和下降码，并且第二电压微调响应于电压检测信号相对于设有目标电压电平范围的第一电压调整上升码和下降码，目标电压电平范围相对于目标电压电平具有正范围或负范围。