[发明专利]一种用于判断地下走滑断裂的滑动方向的方法在审
申请号: | 202210182534.5 | 申请日: | 2022-02-25 |
公开(公告)号: | CN114545496A | 公开(公告)日: | 2022-05-27 |
发明(设计)人: | 李云涛;丁文龙;程晓云;丁仕豪;尹艺兴;石司宇 | 申请(专利权)人: | 中国地质大学(北京) |
主分类号: | G01V1/28 | 分类号: | G01V1/28;G01V1/30 |
代理公司: | 北京知呱呱知识产权代理有限公司 11577 | 代理人: | 朱芳 |
地址: | 100083*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 判断 地下 断裂 滑动 方向 方法 | ||
1.一种用于判断地下走滑断裂的滑动方向的方法,其特征在于,包括:
S1:确定所述地下走滑断裂的发育层位,获取所述地下走滑断裂的平面展布与分段特征;
S2:等间距选取与所述地下走滑断裂垂直的剖面,并对获取到的剖面进行编号,获取沿所述地下走滑断裂走向不同位置的各层位的垂直位移量;
S3:绘制所述垂直位移量与剖面编号间对应的折线图;
S4:依据所述地下走滑断裂垂直位移量曲线特征确定滑动方向。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,步骤S2包括:
S21:获取所述地下走滑断裂的平面延伸长度;
S22:根据所述地下走滑断裂平面延伸长度、三维地震数据质量、构造解释精度需要,综合确定相邻数据点间隔;
S23:从所述地下走滑断裂一端至另一端,以确定的所述相邻数据点间隔等距离获取与所述地下走滑断裂走向垂直的n个地震剖面,并按照获取剖面的顺序将剖面依次编号为1~n;
S24:基于构造演化阶段分析及实际需要,选取开展垂直位移量定量表征的一个或数个层位;
S25:读取每个剖面各目的层位分别在所述地下走滑断裂两侧的时间深度并作差,获取垂直位移量。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,步骤S23中,
当所述地下走滑断裂的走向发生变化时,选取剖面的走向也应变化并始终与所述地下走滑断裂走向垂直。
4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,步骤S24中,
代表所选层位的地震同相轴应连续可追踪。
5.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,步骤S25中,
用剖面编号指向顺时针旋转90°处的层位时间深度数值减去剖面编号指向逆时针旋转90°处的层位时间深度数值获取垂直位移量;
若剖面编号指向顺时针旋转90°处的层位相对剖面编号指向逆时针旋转90°处的层位较深,则垂直位移量为正;
若剖面编号指向顺时针旋转90°处的层位相对剖面编号指向逆时针旋转90°处的层位较浅,则垂直位移量为负。
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,步骤S3包括:
S31:以剖面编号为横轴,垂直位移量为纵轴,建立平面直角坐标系;
S32:依据各剖面处目的层位的垂直位移量,绘制“垂直位移量-剖面编号”折线图;
S33:若绘制多个层位的“垂直位移量-剖面编号”折线图,获取全部剖面全部层位垂直位移量的最大值与最小值,将所有“垂直位移量-剖面编号”折线图的纵轴最大刻度和最小刻度分别调整为全部剖面全部层位垂直位移量的最大值与最小值。
7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,步骤S4包括:
S41:依据“垂直位移量-剖面编号”折线图获取相应的垂直位移量累积折线图;
S42:依据“垂直位移量-剖面编号”折线图获取所述地下走滑断裂的滑动方向;
S43:依据垂直位移量累积折线图获取所述地下走滑断裂的滑动方向;
S44:依据步骤S43与步骤S44综合判定并获取所述地下走滑断裂的滑动方向。
8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,步骤S42中,
当“垂直位移量-剖面编号”折线图符合左行所述地下走滑断裂垂直位移量分布特征时,所述地下走滑断裂滑动方向为左行;
当“垂直位移量-剖面编号”折线图符合右行所述地下走滑断裂垂直位移量分布特征时,所述地下走滑断裂滑动方向为右行。
9.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,步骤S43中,
当垂直位移量累积折线图主体位于横轴上方时,所述地下走滑断裂滑动方向为左行,当垂直位移量累积折线图主体位于横轴下方时,所述地下走滑断裂滑动方向为右行。
10.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,
当所述地下走滑断裂带中存在多条级别不同、发育层位不同、走向不同的所述地下走滑断裂时,应对每条所述地下走滑断裂依次进行滑动方向的厘定,并综合每条所述地下走滑断裂滑动方向的分析结果判定所述地下走滑断裂带的运动学特征。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国地质大学(北京),未经中国地质大学(北京)许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202210182534.5/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。