[发明专利]一种基于读干扰的SSD硬盘性能测试方法、系统、设备及介质

说明书

本发明提出一种基于读干扰的SSD硬盘性能测试方法，包括：获取SSD硬盘的读干扰阈值，并将SSD硬盘中数据的数据块的读数据计数值设定为超过读干扰阈值；从SSD硬盘中读取数据，计算并分析读取数据的读取速度。本发明还提出了一种基于读干扰的SSD硬盘性能测试系统、计算机设备和计算机可读存储介质。通过本发明提出的一种基于读干扰的SSD硬盘性能测试方法和系统，将SSD硬盘中的数据的读数据计数值设定为SSD硬盘的读干扰阈值，再进行读测试准确获取在读干扰情况下SSD硬盘的读写速度。为SSD设计人员提供一个准确的SSD硬盘读写测试数据。

技术领域

本发明属于计算机存储领域，具体涉及一种基于读干扰的SSD硬盘性能测试方法、系统、设备及可读存储介质。

背景技术

在计算机存储领域，NAND(Not AND，本意为：“是与非”，指计算机闪存盘的存储机制，中文称为闪存)闪存随着制造工艺的提升以及制作成本的下降，越来越成为企业级和民用级的必备选择。尤其在当下网络速度越来越快，网络流量数据的数据量越来越庞大，而基于NAND的SSD(Solid State Disk，固态硬盘)硬盘是目前唯一能满足爆发式增长的数据存储服务的存储器。

然而NAND存在很多问题，比如擦写次数，闪存擦除次数的增多，会使隔离浮栅极电子的氧化层磨损，绝缘性能变差，最后导致数据出错，以及数据保存问题，就是随着时间的流逝，存储在闪存中的数据会消失，原因是浮栅极里面的电子跑出来。以及read disturb(读干扰)问题，顾名思义，就是读闪存的时候，会影响数据，当被read的次数过多，会导致数据正确性受影响。所以在数据收到实质性的影响之前(block(存储块)的read次数达到阈值A)，需要将NAND中的数据搬移到新的block中，重新擦除后备用，即进行force gc(强制垃圾回收)。

NAND的擦写次数和数据保存常常作为SSD硬盘的重要指标，影响SSD硬盘的寿命，而读干扰问题是由于在读取数据时触发读干扰机制导致数据迁移到其他存储块最终影响SSD的实际业务的读写速度，则影响SSD产品的使用体验以及客户的业务的健壮性。传统的实现方式通常根据存储块的快达到读取阈值时将数据搬移到其他数据块，但是此过程，在短时间内集中处理(风暴问题)，会对前端的性能产生明显的影响。而现有的SSD硬盘的测试方法中，无法体现SSD硬盘的读干扰对硬盘读写速度的影响，也无法为SSD硬盘制造上提供一种指导性的测试数据。

因此，亟需一种基于读干扰的硬盘测试方法来准确展示SSD硬盘的读干扰机制给硬盘数据读写带来的影响，以指导SSD开发人员制定合理的读干扰处理机制。

发明内容

为解决以上问题，本发明提出了一种基于读干扰的SSD硬盘性能测试方法，包括：

获取所述SSD硬盘的读干扰阈值，并将所述SSD硬盘中数据的数据块的读数据计数值设定为超过所述读干扰阈值；

从所述SSD硬盘中读取数据，计算并分析所述读取数据的读取速度。

在本发明的一些实施方式中，获取所述SSD硬盘的读干扰阈值，并将所述SSD硬盘中数据的数据块的读数据计数值设定为超过所述读干扰阈值包括：

获取所述SSD硬盘的所有数据块的读数据计数值，并根据所述数据块中读数据计数值最低数据块的读数据计数值作为所述SSD硬盘的读干扰阈值。

在本发明的一些实施方式中，获取所述SSD硬盘的读干扰阈值，并将所述SSD硬盘中数据的数据块的读数据计数值设定为超过所述读干扰阈值还包括：

获取所述SSD硬盘的所有数据块的读数据计数值，并将所述SSD硬盘中部分或全部数据的数据块的读数据计数值设定为所述SSD硬盘的读干扰阈值。

在本发明的一些实施方式中，将所述SSD硬盘中部分或全部数据的数据块的读数据计数值设定为所述SSD硬盘的读干扰阈值包括：