[发明专利]根据光学显微镜图像判断十层以内石墨烯具体层数的方法

权利要求书

1.根据光学显微镜图像判断十层以内石墨烯具体层数的方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤1：根据理论公式计算获取十层以内不同层数石墨烯在特定基底下的理论对比度值；

步骤2：在相同光源下，获取特定基底和已知层数石墨烯在该特定基底下的光学显微镜图片；

步骤3：对步骤2中的光学显微镜图片提取若干个R、G、B刺激值，并求平均，得到R、G、B的相对刺激值；

步骤4：对步骤3中的R、G、B的相对刺激值赋予权重，使得赋予权重后的R、G、B相对刺激值之和接近步骤1中计算得到的石墨烯在特定基底下的理论对比度值；

步骤5：在相同光源下，获取特定基底和在该特定基底下待测层数石墨烯的光学显微镜图片；

步骤6：对步骤5中的光学显微镜图片中的特定基底和待测石墨烯区域提取R、G、B刺激值，求取相对刺激值；

步骤7：根据步骤4中得到的R、G、B相对刺激值权重，将步骤6中待测位置的R、G、B相对刺激值乘以权重后求和，得到实验对比度值；

步骤8：将步骤7中的实验对比度值与步骤1中计算得到的不同层数石墨烯的理论对比度值逐一比较，判断石墨烯层数。

2.如权利要求1所述的根据光学显微镜图像判断十层以内石墨烯具体层数的方法，其特征在于，所述步骤1中理论公式为：

C＝0.0046+0.0925N-0.00255N²

式中，C为理论对比度值，N为石墨烯层数，N10。

3.如权利要求1所述的根据光学显微镜图像判断十层以内石墨烯具体层数的方法，其特征在于，所述步骤3中利用MATLAB软件的impixel函数，提取若干个特定基底和已知层数石墨烯在该特定基底下的光学显微镜图片的R、G、B刺激值。

4.如权利要求3所述的根据光学显微镜图像判断十层以内石墨烯具体层数的方法，其特征在于，所述步骤3中R、G、B的相对刺激值的计算公式如下：

式中，R_ni、G_ni、B_ni分别为n层石墨烯光学显微镜图片上第i个点的R、G、B刺激值，R_n、G_n、B_n为n层石墨烯的R、G、B刺激值，C_Rn、C_Gn、C_Bn分别为n层石墨烯的R、G、B相对刺激值，R₀、G₀、B₀为特定基底的R、G、B刺激值。

5.如权利要求4所述的根据光学显微镜图像判断十层以内石墨烯具体层数的方法，其特征在于，所述步骤4中对R、G、B的相对刺激值赋予权重，具体为：

(1-α)C_nω₁C_Rn+ω₂C_Gn+ω₃C_Bn(1+α)C_n

式中，α为对比度值偏差允许范围，ω_i为R、G、B相对刺激值权重，i＝1,2,3，C_n为n层石墨烯的理论对比度值。

6.如权利要求5所述的根据光学显微镜图像判断十层以内石墨烯具体层数的方法，其特征在于，所述步骤4中通过求解采用随机机会约束模型，得到满足约束条件和目标函数的权重，所述目标函数如下所示：

约束条件为：

P{(1-α)C_nω₁C_Rn+ω₂C_Gn+ω₃C_Bn(1+α)C_n}β

0≤ω_i≤1，i＝1，2，3

ω₁+ω₂+ω₃＝1

式中，P{·}为概率事件，β为条件成立置信水平。