[发明专利]一种薄膜偏振片透过率的检测装置及方法

权利要求书

1.一种薄膜偏振片透过率的检测装置，包括功率计(6)，其特征在于：所述检测装置还包括测试光源(1)、偏振立方体(2)、旋转台(3)、安装座(4)和凸透镜(5)，所述安装座(4)固定设置在旋转台(3)上且两者中心重合，待测薄膜偏振片设置在安装座(4)上且两者中心重合，所述测试光源(1)发出的光线穿过偏振立方体(2)，入射至待测薄膜偏振片的中心，经待测薄膜偏振片反射至凸透镜(5)的中心，然后到达功率计(6)，所述测试光源(1)发出的光线与待测薄膜偏振片所在平面之间的夹角α为33±1°，所述凸透镜(5)的焦距为f，所述凸透镜(5)的中心与旋转台(3)的中心的距离和凸透镜(5)的中心与功率计(6)之间的距离均为2f。

2.根据权利要求1所述的一种薄膜偏振片透过率的检测装置，其特征在于：所述凸透镜(5)的通光孔径不小于4f*tanθ，其中θ为旋转台(3)的中心与凸透镜(5)的中心之间的连线和旋转台(3)的中心与凸透镜(5)的边缘点之间的连线的夹角。

3.根据权利要求1所述的一种薄膜偏振片透过率的检测装置，其特征在于：所述凸透镜(5)的两个表面均镀有与待测薄膜偏振片工作波长相对应的增透膜。

4.根据权利要求3所述的一种薄膜偏振片透过率的检测装置，其特征在于：所述增透膜的透过率大于99.9％。

5.根据权利要求1所述的一种薄膜偏振片透过率的检测装置，其特征在于：所述功率计(6)的探头内壁涂有白色漫反射材料的积分球。

6.根据权利要求1所述的一种薄膜偏振片透过率的检测装置，其特征在于：所述旋转台(3)的转角分辨率大于0.1°。

7.一种利用权利要求1-6任一权利要求所述的检测装置检测薄膜偏振片透过率的方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤一、将安装座(4)固定在旋转台(3)的转动中心，再将待测薄膜偏振片设置在安装座(4)的中心处；

步骤二、放置好测试光源(1)，使其发出的光线入射至待测薄膜偏振片的中心，转动旋转台(3)，使测试光源(1)发出的光线与待测薄膜偏振片所在平面之间的夹角α为33±1°；

步骤三、放置偏振立方体(2)和凸透镜(5)，使测试光源(1)发出的光依次通过偏振立方体(2)、待测薄膜偏振片和凸透镜(5)的中心；

步骤四、调节凸透镜(5)的位置，使凸透镜(5)的中心与旋转台(3)中心的距离为2f；

步骤五、先用功率计(6)测试经过偏振立方体(2)后的光功率P1，然后将功率计(6)移动至距离凸透镜(5)中心2f的距离处，使通过凸透镜(5)的光线入射至功率计(6)的探头中心；

步骤六、分别顺时针和逆时针转动旋转台(3)，转动角度小于±10°，记录转动过程中功率计(6)采集到的最小功率值P2；

步骤七、利用公式T＝1-P2/P1计算可得待测薄膜偏振片的p光透过率。

8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于：所述步骤五中，在使用功率计(6)测试光功率P1前，调节测试光源(1)的电流，使其输出功率为1-1.2W。

9.根据权利要求7所述的方法，其特征在于：所述步骤五中，在使用功率计(6)测试光功率P1后，将功率计(6)的测量档位调至mW量程。

10.根据权利要求7所述的方法，其特征在于：所述测试光源(1)的输出波长为待测薄膜偏振片的工作波长，其光束质量小于2。