[发明专利]二阶噪声整形逐次逼近型模数转换器及其控制方法在审
| 申请号： | 202210157177.7 | 申请日： | 2022-02-21 |
| 公开（公告）号： | CN114614818A | 公开（公告）日： | 2022-06-10 |
| 发明（设计）人： | 李德建;李明节;王于波;胡毅;李振国;侯佳力;张喆 | 申请（专利权）人： | 北京智芯微电子科技有限公司;国家电网有限公司 |
| 主分类号： | H03M1/08 | 分类号： | H03M1/08;H03M1/38 |
| 代理公司： | 北京润平知识产权代理有限公司 11283 | 代理人： | 王晓晓 |
| 地址： | 100192 北京市海淀区*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 噪声 整形 逐次 逼近 型模数 转换器 及其 控制 方法 | ||
1.一种二阶噪声整形逐次逼近型模数转换器，其特征在于，包括：数模转换器DAC电容模块、噪声整形模块、放大器模块，其中所述噪声整形模块包括误差反馈模块和积分模块，
所述放大器模块用于对所述DAC电容模块输出的量化误差电压放大处理，
所述误差反馈模块用于对所述放大器模块放大后的量化误差电压进行采样，并在下一量化周期将采样的量化误差电压反馈至所述DAC电容模块；
所述积分模块用于对所述放大器模块放大后的量化误差电压进行积分处理，并将积分处理后的信号输入给比较器模块的反向放大输入端以用于所述下一量化周期，
其中所述放大器模块包括前置放大器。
2.根据权利要求1所述的二阶噪声整形逐次逼近型模数转换器，其特征在于，所述误差反馈模块包括第一采样电容Cres、第一采样开关φres和反馈开关φEF、第一复位开关φrst，
其中所述第一采样电容Cres的一端耦接至地，另一端耦接至所述DAC电容模块，所述第一采样电容Cres经由所述第一采样开关φres对所述放大后的量化误差电压进行采样，并且经由所述反馈开关φEF将采样的量化误差电压在下一量化周期反馈至所述DAC电容模块，
所述第一复位开关φrst的一端与所述第一采样电容Cres的所述另一端耦接，所述第一复位开关φrst的另一端与复位电压耦接。
3.根据权利要求1所述的二阶噪声整形逐次逼近型模数转换器，其特征在于，所述积分模块包括第二采样电容CS和积分电容Cint、积分开关φns、第二复位开关φoos，
其中，所述第二采样电容CS的一端耦接至所述DAC电容模块，所述比较器模块的正向输入端和所述积分电容Cint的一端分别耦接至所述第二采样电容CS的另一端，所述积分电容Cint的另一端耦接至地，所述积分电容Cint的所述一端还与所述比较器模块的反向放大输入端耦接，
所述积分电容Cint的所述一端经由所述积分开关φns与所述第二采样电容CS的所述另一端耦接，
所述第二采样电容CS的所述另一端和所述比较器模块的正向输入端分别与所述第二复位开关φoos的一端耦接，所述第二复位开关φoos的另一端与复位电压耦接。
4.根据权利要求3所述的二阶噪声整形逐次逼近型模数转换器，其特征在于，在所述二阶噪声整形逐次逼近型模数转换器包括放大器模块的情况下，在所述积分模块进行所述积分处理后，所述第二复位开关φoos由断开状态变换为接通状态，使得所述第二采样电容CS对所述放大器模块的失调电压进行存储，以消除所述放大器模块在所述下一量化周期的失调误差。
5.根据权利要求1所述的二阶噪声整形逐次逼近型模数转换器，其特征在于，还包括第三复位开关φDrst和第二采样开关φSamp，
所述第三复位开关φDrst的一端与所述DAC电容模块耦接，所述第三复位开关φDrst的另一端与复位电压耦接，
所述DAC电容模块经由所述第二采样开关φSamp与输入电平耦接。
6.根据权利要求1所述的二阶噪声整形逐次逼近型模数转换器，其特征在于，所述二阶噪声整形逐次逼近型模数转换器的结构采用全差分结构。
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