[发明专利]一种可实现焊点中金属间化合物内柯肯达尔孔洞自愈合的方法在审

专利信息
申请号: 202210151986.7 申请日: 2022-02-18
公开(公告)号: CN114453694A 公开(公告)日: 2022-05-10
发明(设计)人: 刘志权;周士祺;薛森明;孙蓉 申请(专利权)人: 深圳先进电子材料国际创新研究院
主分类号: B23K1/012 分类号: B23K1/012;B23K1/20
代理公司: 沈阳科苑专利商标代理有限公司 21002 代理人: 于晓波
地址: 518103 广东省*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 实现 焊点中 金属 化合物 内柯肯达尔 孔洞 愈合 方法
【权利要求书】:

1.一种可实现焊点中金属间化合物内柯肯达尔孔洞自愈合的方法,其特征在于:该方法采用锡基焊料,并以(111)取向的纳米孪晶铜作为基板金属化层(UBM)材料,回流焊后进行恒温放置处理,从而实现焊点中金属间化合物内柯肯达尔孔洞自愈合。

2.根据权利要求1所述的可实现焊点中金属间化合物内柯肯达尔孔洞自愈合的方法,其特征在于:该方法包括如下步骤:

(1)制备Cu基板:提供带有Cu种子层的硅(Si)晶圆,在所述的带有Cu种子层的Si晶圆上通过电镀工艺电镀一层Cu薄膜,获得Cu基板;所述Cu薄膜为(111)取向的纳米孪晶铜;

(2)回流焊:使用Sn基焊料,将其涂抹在步骤(1)所制成的Cu基板上,并将所形成的三明治结构放置于回流焊炉中进行回流焊;

(3)恒温放置处理:将步骤(2)中回流焊后制得的焊点放入恒温油浴池中,在一定温度下恒温时效一定的时间后,即能实现焊点内金属间化合物内柯肯达尔孔洞自愈合的焊点。

3.根据权利要求2所述的可实现焊点中金属间化合物内柯肯达尔孔洞自愈合的方法,其特征在于:步骤(1)中,所述Cu种子层,其完整且均匀地覆盖Si晶圆表面。

4.根据权利要求2所述的可实现焊点中金属间化合物内柯肯达尔孔洞自愈合的方法,其特征在于:步骤(1)中,电镀后的Cu薄膜厚度为5~100μm,Cu薄膜表面Cu的(111)晶体取向的织构系数为70~100%。

5.根据权利要求2所述的可实现焊点中金属间化合物内柯肯达尔孔洞自愈合的方法,其特征在于:步骤(2)中,所述回流焊的最高温度为280~300℃,在最高温度条件下的维持时间为30~60s,气氛为氮气气氛,降温阶段的降温速率为5~10℃/分钟,最终形成焊点。

6.根据权利要求2所述的可实现焊点中金属间化合物内柯肯达尔孔洞自愈合的方法,其特征在于:步骤(3)中,所述恒温时效的温度为150-200℃(130℃

即使时效很长时间孔洞也不会完全消失),恒温时效时间为100-300h。

7.根据权利要求2所述的可实现焊点中金属间化合物内柯肯达尔孔洞自愈合的方法,其特征在于:步骤(3)中,所述恒温时效的温度为160-185℃,恒温时效时间为200-300h。

8.根据权利要求2所述的可实现焊点中金属间化合物内柯肯达尔孔洞自愈合的方法,其特征在于:步骤(3)恒温时效后,焊点中Cu3Sn的平均厚度不大于2μm。

9.根据权利要求2所述的可实现焊点中金属间化合物内柯肯达尔孔洞自愈合的方法,其特征在于:步骤(3)恒温时效后,所得焊点中柯肯达尔孔洞中的85%以上达到自愈合。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳先进电子材料国际创新研究院,未经深圳先进电子材料国际创新研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202210151986.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top