[发明专利]一种上导滑转子系统有限元分析方法有效

专利信息
申请号: 202210135205.5 申请日: 2022-02-15
公开(公告)号: CN114662225B 公开(公告)日: 2023-05-26
发明(设计)人: 汤琴;何启源;陈昌林;罗功富;张建伟;王世建;周俊鹏;孙锋;杜轩;张乐 申请(专利权)人: 东方电气集团东方电机有限公司
主分类号: G06F30/17 分类号: G06F30/17;G06F30/23;G06F119/08
代理公司: 成都天嘉专利事务所(普通合伙) 51211 代理人: 冉鹏程
地址: 618000 四川*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 上导滑 转子 系统 有限元分析 方法
【权利要求书】:

1.一种上导滑转子系统有限元分析方法,其特征在于,包括以下几个步骤:

S1、按照图纸尺寸构建滑转子(5)、绝缘层(3)、铜带(4)和套筒(2)的三维模型;

S2、将构建的滑转子(5)、绝缘层(3)、铜带(4)和套筒(2)三维模型绘制网格并计算得到套筒(2)内圆的径向变形;

S3、用套筒(2)内圆的图纸尺寸减去套筒(2)内圆的径向变形来修改套筒(2)的三维模型;

S4、构建主轴(1)的三维模型,并将滑转子(5)、绝缘层(3)、铜带(4)以及修改后的套筒(2)划分网格,施加温度边界,计算温度场;

S5、对滑转子系统添加边界条件及载荷,并导入温度场,对滑转子系统进行分析。

2.根据权利要求1所述的一种上导滑转子系统有限元分析方法,其特征在于,所述S1步骤还包括输入不同部件的材料特性参数的步骤。

3.根据权利要求2所述的一种上导滑转子系统有限元分析方法,其特征在于,所述材料特性参数包括密度、弾性模型、泊松比和热膨胀系数。

4.根据权利要求1所述的一种上导滑转子系统有限元分析方法,其特征在于,所述S1步骤中还包括简化绝缘层(3)与铜带(4)的结构的步骤,将铜带(4)与绝缘层(3)分别简化为空心圆柱。

5.根据权利要求4所述的一种上导滑转子系统有限元分析方法,其特征在于,所述铜带(4)直接与套筒(2)接触,绝缘层(3)设置在铜带(4)外层,绝缘层(3)简化为一个空心圆柱,所述绝缘层(3)简化的空心圆柱的厚度为各层绝缘层(3)的厚度之和。

6.根据权利要求1所述的一种上导滑转子系统有限元分析方法,其特征在于,所述S2步骤中滑转子(5)与绝缘层(3)建立标准接触、绝缘层(3)与铜带(4)建立绑定接触、铜带(4)与套筒(2)建立标准接触。

7.根据权利要求1所述的一种上导滑转子系统有限元分析方法,其特征在于,所述主轴(1)的三维模型取滑转子系统中的主轴(1)部分进行构建。

8.根据权利要求1所述的一种上导滑转子系统有限元分析方法,其特征在于,所述步骤S4中,计算温度场时,主轴(1)与套筒(2)建立绑定接触。

9.根据权利要求1所述的一种上导滑转子系统有限元分析方法,其特征在于,所述步骤S5中,主轴(1)与套筒(2)建立标准接触。

10.根据权利要求1-9任一所述的一种上导滑转子系统有限元分析方法,其特征在于,所述对滑转子系统进行分析包括计算出滑转子系统的应力及变形的步骤。

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