[发明专利]一种铁基非晶带材叠片系数的快速测量方法

权利要求书

1.一种铁基非晶带材叠片系数的快速测量方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1、制备单层试样群；

S2、从单层试样群中任意抽取一片单层试样；

S3、利用固定的双头对射激光同轴位移计扫描得到单层试样的厚度平均值；利用CCD尺寸视觉系统扫描测量得到单层试样的宽度值与长度值；利用精密电子天平测量单层试样的重量值；

S4、根据步骤S3中获得的单层试样的厚度平均值、宽度值与长度值、重量值，计算得到铁基非晶带材的叠片系数；

所述步骤S4的具体计算方式为：将获得的单层试样的厚度平均值、宽度值、长度值和重量值代入公式2得到铁基非晶带材的叠片系数；

L_f =m/（l*b*h*ρ）公式2；

其中，L_f为叠片系数；m为单层试样的重量值，m的单位为克；l为单层试样的长度值，l的单位为毫米；b为单层试样的宽度值，b的单位为毫米；h为单层试样的厚度平均值，h的单位为微米，ρ为单层试样的材料密度，ρ的单位为克每立方厘米。

2.根据权利要求1所述的一种铁基非晶带材叠片系数的快速测量方法，其特征在于，所述步骤S1的具体实施方式为：选取一段宽度为142mm、长度为一个或两个冷却辊周长的连续铁基非晶带材，将其裁剪为10-20片具有相同长度的单层试样，形成单层试样群。

3.根据权利要求2所述的一种铁基非晶带材叠片系数的快速测量方法，其特征在于，所述冷却辊周长为3.14米，冷却辊直径为1米。

4.根据权利要求1所述的一种铁基非晶带材叠片系数的快速测量方法，其特征在于，所述单层试样的长度为300±1mm，宽度为142±0.2 mm。

5.根据权利要求1所述的一种铁基非晶带材叠片系数的快速测量方法，其特征在于，所述步骤S3的具体实施方式为：

将单层试样置放于伺服平台上，让单层试样随着伺服平台向上移动的过程中，同时利用固定的双头对射激光同轴位移计直接扫描单层试样，在扫描时沿着单层试样宽度方向上的3个不同位置以0-20m/min 的扫描速率对单层试样的厚度进行扫描，每个位置扫描的总点数依据单层试样厚度总点数公式进行确定，将测量得到的单层试样的所有厚度值进行汇总求取均值，最终得到单层试样的厚度平均值；

直接利用CCD尺寸视觉系统扫描测量单层试样的宽度值与长度值，所得宽度值与长度值便是单层试样本次测量的宽度值与长度值；

将单层试样直接放置于电子天平上进行测量，得到单层试样的重量值。

6.根据权利要求5所述的一种铁基非晶带材叠片系数的快速测量方法，其特征在于，所述单层试样厚度总点数公式为：

X=W*Y/Z 公式1；

其中，X为总点数；W为单层试样的宽度值，W的单位为mm；Z为伺服平台的移动速度，Z的单位为mm/s，Y为双头对射激光同轴位移计上所使用的激光采集周期，Y的单位为个/μs。

7.根据权利要求5所述的一种铁基非晶带材叠片系数的快速测量方法，其特征在于，所述双头对射激光同轴位移计上所使用的激光探头的光点直径为500μm，分辨率为0.1μm，同轴度为0.2μm，所述扫描速率为1.2m/min。

8.根据权利要求5所述的一种铁基非晶带材叠片系数的快速测量方法，其特征在于，所述精密电子天平的精度单位为0.0001g。

9.根据权利要求5所述的一种铁基非晶带材叠片系数的快速测量方法，其特征在于，所述伺服平台移动的精度要求不大于0.02mm，所述CCD尺寸视觉系统的扫描像素不小于2000万。