[发明专利]一种故障检测设备、方法、装置及电子设备

说明书

本发明公开了一种故障检测设备、方法、装置及电子设备，包括：PID控制器组件、数模转换器、调试用数模转换器、模数转换器以及电驱动器，数模转换器、调试用数模转换器、模数转换器分别与PID控制器组件连接，模数转换器和电驱动器用于与被测器件连接；处理器，用于向PID控制器组件指示用于对被测器件测试的测试参数以及从PID控制器组件获取测试后生成的测试数据，数模转换器用于将测试参数进行转换后通过电驱动器输入被测器件；模数转换器用于对获取到的测试数据进行转换后输入PID控制器组件，调试用数模转换器用于将输入到PID控制器组件的测试数据进行数模转换；外部测量仪器，用于显示测试数据对应的模拟信号。

技术领域

本发明涉及测试技术领域，具体涉及一种故障检测设备、方法、装置及电子设备。

背景技术

被测器件(DUT)是在首次制造时或在其生命周期后期进行测试的制造产品，现有技术中通常使用ATE(Automatic Test Equipment，自动测试设备)实现对DUT的测试。但由于用于进行测试的ATE通常由源表单元(SMU)的现场可编程逻辑门阵列(FPGA)控制，SMU中也包括诸如数模转换器(DAC)、模数转换器(ADC)和电驱动器等组件，故当通过ATE测试出现故障时，故障原因可能来自于ATE这些自身组件。而相关技术中，一般使用探头对ATE组件进行探测，由于探头的负载效应，使得探测结果并不准确。故亟待提出一种新的故障检测方法以准确定位出在使用ATE对DUT进行测试时的故障原因。

发明内容

因此，本发明要解决的技术问题在于克服在使用ATE对DUT进行测试时现有故障原因探测方式的探测结果不准确的缺陷，从而提供一种故障检测设备、方法、装置及电子设备。

根据第一方面，本发明实施例公开了一种故障检测设备，包括：现场可编程逻辑门阵列，所述现场可编程逻辑门阵列中包含PID控制器组件；源表单元，所述源表单元中包含数模转换器、调试用数模转换器、模数转换器以及电驱动器，所述数模转换器、调试用数模转换器、模数转换器分别与所述现场可编程逻辑门阵列中的PID控制器组件连接，所述模数转换器和所述电驱动器用于与被测器件连接；处理器，分别与所述PID控制器组件、所述调试用数模转换器连接，用于向所述PID控制器组件指示用于对所述被测器件进行测试的测试参数以及从所述PID控制器组件获取利用所述测试参数对所述被测器件测试后生成的测试数据；所述数模转换器用于将所述测试参数进行数模转换后通过所述电驱动器输入所述被测器件；所述模数转换器用于对获取到的被测器件的测试数据进行模数转换后输入所述PID控制器组件，所述调试用数模转换器用于将输入到所述PID控制器组件的测试数据进行数模转换；外部测量仪器，一侧与所述调试用数模转换器、另一侧与所述处理器连接，用于显示所述被测器件的测试数据对应的模拟信号。

可选地，所述外部测量仪器包括：数字仪表和/或示波器。

根据第二方面，本发明实施例公开了一种故障检测方法，用于上述第一方面或第一方面任一可选实施方式所述的故障检测设备；所述方法包括：当利用测试参数对待测试的DUT进行测试后从外部测量仪器中读取模拟信号；将所述模拟信号与所述测试参数进行比对得到测试结果；当所述测试结果为异常时，利用相同的测试参数对参考DUT进行测试，其中所述参考DUT表征已测试过且测试结果为正常的DUT；当对所述参考DUT的测试结果为正常时，判定所述待测试的DUT出现故障。

可选地，所述方法还包括：当对所述参考DUT的测试结果仍为异常时，则判定故障原因为所述参考DUT出现故障或者所述故障检测设备中的组件出现故障。

可选地，所述将所述模拟信号与所述测试参数进行比对得到测试结果，包括：确定所述模拟信号与指示的用于对被测器件进行测试的测试参数的关联关系；当所述模拟信号与指示的用于对被测器件进行测试的测试参数不相关，则判定测试结果为异常。